Каждая полупроводниковая система характеризации модели 4200-SCS может быть сконфигурирована для использования до семи дополнительных источников-измерителей (SMU), всего — девяти SMU. С моделью 4200-SCS можно использовать источники-измерители двух моделей: 4200-SMU (прибор средней мощности, 100 мА, 2 Вт) и 4210-SMU (прибор высокой мощности, 1 А, 20 Вт). Система модели 4200-SCS поддерживает использование до девяти высокомощных источников-измерителей (SMU).