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PCI Express Motherboard

自動テストとデバッギング

データドリブン世界が求める性能に対応するために、高速デジタル規格が急速に進化しています。次世代のシリアル規格とデータ通信要件によりテストの新たな課題が発生し、より高度なコンプライアンス/デバッグ・ツールが求められています。テクトロニクスは、設計から、シミュレーション、解析、デバッグ、コンプラインス・テストまで、性能の最適化、検証サイクルの短縮、市場投入までの期間短縮のために、高度な自動測定ソリューションをご用意しています。次世代のシリアル規格とデータ通信要件によりテストの新たな課題が発生し、より高度なコンプライアンス/デバッグ・ツールが求められています。テクトロニクスは、設計から、シミュレーション、解析、デバッグ、コンプラインス・テストまで、性能の最適化、検証サイクルの短縮、市場投入までの期間短縮のために、自動電気テスト・ソリューションをご用意しています。

高性能コンピューティング規格の正確で再現性のあるテスト

データ・センタ、人工知能(AI)、高性能コンピューティングなどのデータ集約型市場では、データ・スループットの向上やメモリ容量の増加の需要が高まり続けています。データ転送速度が高速化すると、シグナル・インテグリティの限界を超えるような設計が必要になるため、コンプライアンス、デバッグ、検証にもより高性能な測定ツールが求められます。テクトロニクスの自動テスト・ソリューションは、これらの課題に正確にかつ再現性をもって対処することで、エンジニアが最新の設計をテストできるようにします。

PCI Express(PCIe)とCXL

メモリ(DDRとLPDDR)

ストレージ(SASとSATA)

PCIe Motherboard
Consumer Electronics

家電製品技術のテスト時間を短縮

イノベーションのペースは、より新しくより高速な家電製品やデバイスの需要を促しています。これらの開発の基礎となっている規格は、データ・レートの増加や設計の複雑化という点で、テストに新たな課題をもたらしています。テクトロニクスのテスト・ソリューションは、正確で再現性のある測定を実現し、テスト時間を短縮して最新の仕様への適合性を確保します。

ディスプレイ(DisplayPortとHDMI)

MIPI(M-Phy、D-Phy、C-PhyおよびUFS)

USB

Thunderbolt

Ethernetデバイス設計のための統合ツール

Ethernetは、ハイパースケール・データ・センタやエンタープライズ・システム、そして自動車用や産業用アプリケーションなどにおいて、ネットワーク接続を実現します。テクトロニクスは、これらのエコシステムにおいてIEEE 802.3 Ethernetデバイスの物理レイヤのテスト、開発、およびデバッギングを行うための、統合ツール・セットを提供しています。

Ethernet(10M~400G、およびそれ以降)

Ethernet
Advanced Signal Integrity Measurement and Analysis Tools

高度なシグナル・インテグリティ測定および解析ツール

Tektronixは、現在の高速シリアル規格に対応する強力な解析ツール・スイートを提供しています。これらは、複雑なマルチソース構成を高速かつ柔軟に処理できるように構築されています。Tektronixのツールは、直感的なワークフロー、高密度測定機能、業界をリードする視覚化機能を備えています。エンジニアは、より多くのデータをより簡単に、より短時間で解析できます。

ジッタおよびアイ・ダイアグラム解析(オプションのDJAが必要)

ディエンベッド、エンベッド、およびイコライゼーション(オプションのSIM Advancedが必要)

25GHzを超える周波の場合、DPOJETPAMJET、およびSDLAをDPO70000シリーズ・プラットフォームで引き続き利用して、高周波のユースケースに対応できます。

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PCIe Gen 6 PAM4 Signaling

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アプリケーション・ノート

MIPI D-PHY物理層の自動コンフォーマンス・テスト

MIPIアライアンスは、MIPI D-PHYトランス・ミッタの設計がMIPI規格に準拠するためのテストを規定しています。D-PHYコンプライアンス・テストは通常、オシロスコープを使用して実行され、テストを高速化し、エラーを減らし …
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