MP5000シリーズ・モジュラ精密テストシステム

直感的な操作

MP5000の詳細

• 性能の最適化
• ダウンタイムの最小化
• 適応性を備えた設計
• テストの自動化

ダウンタイムを最小化

特長

• モジュールの取り外しと交換が簡単
• 独立したスロット電源制御でメインフレームのダウンタイムを回避
• モジュールのみの機器校正で機器のメンテナンス時間を短縮
• 最新のタッチ・スクリーンとWebインタフェースにより、迅速な解析やトラブルシューティングが可能

スピード、安全性、同期

• このコンパクトな1Uプラットフォームは、高スループットと並列テストに対応した設計で、最大6つの独立したチャンネルと高速な保護機能を提供し、デバイスの安全を守ります。
• 1MSa/sのADCを使用して詳細な波形をキャプチャし、18本のデジタルI/OピンとTSP-Linkを用いて簡単に拡張し、最大32台の計測器とマイクロ秒未満で同期させることができます。
• Webインタフェース、Python、IVIドライバ、TSPスクリプトなど、目的に合った制御方法を選択し、USB3.0とギガビット・イーサネットを利用して、高速で信頼性の高いデータ・ストリーミングを実現できます。

VCSELモジュールのファンクション・テスト

高速LIV（光電流電圧）テストでVCSELモジュールの特性評価を迅速に行います。MP5000はレーザ・ダイオードに正確な電流パルスを供給し、光ダイオードの応答を測定します。これにより、高速で同期された正確な光学性能の検証が可能になります。

• 1Uメインフレームあたり最大6チャンネル
• チャンネル間の同期は500ns未満
• SMUモジュール上の1MSa/sデジタイザ
• ソース・センス電圧の改良で柔軟なセットアップに対応

光トランシーバ用レーザ/モジュールの特性評価

検証から製造まで、同期された高速なLIVスイープを生成し、レーザと変調器の性能を保証します。MP5000により、低電流での正確さと高速測定を組み合わせて、特性動作の全体像を把握できます。

• 100nAのレンジまで低電流を測定
• サンプル・レート1MSa/sのデジタイザ
• ソース・センス電圧の改良で柔軟なセットアップに対応
• TSP Toolkitによる自動化

オン・インスツルメント処理で市場投入を迅速化

MP5000と、サポートされているSMUおよびPSUは、高速でスケーラブルな自動化のために設計された組み込みのTSPプロセッサを搭載しています。TSPを活用して、テスト時間を短縮できるだけでなく、よりスマートなテスト戦略を構築できます。

• 自動化が簡単 – 人間が理解できるTSPコマンドを使用して、初心者もエキスパートも、スクリプトを直感的に作成できます。
• モジュラでスケーラブル – スクリプトの読み込みや関数のカプセル化を活用したカスタムAPIを定義し、再利用可能で保守性の高いコードを実現できます。
• 実行時間の短縮 – 完全なテスト・ルーチンを計測器上で直接実行し、PCと計測器の間の遅延を排除できます。
• 高精度同期 — TSP-Link™を利用して、MP5000メインフレーム間でマイクロ秒未満の連携を実現し、高速並列テストを実行できます。

リアルタイムの可視化でアップタイムを最大化

内蔵のツールを活用して、製造を中断することなく、問題を早期に特定して解決します。

• ライブ・モニタリング – テストの実行をリアルタイムで監視し、すべてが想定通りに動作することを確認できます。
• タッチ・スクリーンとWebインタフェース – 計測器で直接、またはブラウザからリモートで、接続と設定を再確認できます。
• 非干渉型デバッグ – テストシステムを中断することなく機能を検証し、トラブルシューティングを行います。
• セットアップと開発の効率化 – セットアップとテスト作成の段階でスクリプトとシステムの動作をデバッグします。