ソフトウェア

円滑で効果的な教育／学習環境を構築できるネットワークベースの教育現場向けソリューション

ベンチ機器およびテクトロニクス・オシロスコープ用機器制御ソフトウェア複雑なプログラミングなしで、わずか数分で測定を開始できます。I-V特性評価などを行うことができます。

2端子デバイス用カーブ・トレーサの使い慣れたユーザ体験を再現しながら、電流と電圧の両方で特性のトレースが可能。

プログラミングなしでI-V特性評価を行うことができます。 測定結果の視覚化、インタラクティブ操作、共有が容易です。

TSP対応機器用のTSPテスト・スクリプトを作成、変更、デバッグ、および管理できます。

ACSは、半導体デバイスの特性評価、パラメトリック・テスト、信頼性テスト、およびシンプルな機能テスト用に設計された柔軟かつインタラクティブなソフトウェア・テスト環境です。

検出が困難なトランジェントなRF信号も確実に取込み、検出し、解析することが可能な豊富な機能を備えたテスト・ツールです。

• テクトロニクスのリアルタイム・アナライザ／オシロスコープで取込んだ信号の解析
• 優れた確度の時間相関のとれたマルチドメイン測定
• 記録／解析機能
• さまざまなアプリケーションに対応できる拡張信号解析オプション

高性能オシロスコープにRF／ベクトル解析機能を追加

テクトロニクスのすべてのRSAスペクトラム・アナライザをサポートし、膨大なRFデータセットから特定の信号をすばやく特定できます。

AWGの制御、機器のエミュレーションと波形生成が可能なPCベースのソフトウェア環境

（無償）波形をすばやく作成し、テクトロニクスの波形／ファンクション・ジェネレータに転送できます。