お問い合わせ
ダウンロード
マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード：
フィードバック
ケースレー2010シリーズ：7.5桁デジタル・マルチメータ（内蔵スキャナ・オプション）
2010シリーズ7.5桁低ノイズ・マルチメータは、優れた費用対効果と高分解能、さらに高精度センサー、トランスデューサ、A/DおよびD/Aコンバータ、レギュレータ、基準器、コネクタ、スイッチ、リレーなどの高速DMMアプリケーションに必要な高速性と確度をすべて備えています。 2000、2001、および2002シリーズから受け継いだ高速性と低ノイズを実現したA/Dコンバータ技術に基づきながら、2010シリーズには新たに4種類の独自の抵抗測定機能が追加されており、接点、コネクタ、スイッチ、またはリレーの抵抗、リニアリティ、アイソレーションの特性評価に最適です。
特長 | 利点 |
| 100 nV rms のノイズ・フロア | 低電圧コンポーネントの効率的で正確な特性評価 |
7 ppm DCVの再現性 | 測定結果に対する信頼性がさらに向上 |
| 低パワー抵抗測定モード | 100 μAという微弱な印可電流により低抵抗を測定し、デバイスの発熱を最小化 |
ドライ回路テスト機能 | テスト電圧を制御することで、接点、コネクタなどで抵抗測定を行う際に、酸化膜やフィルムにホールが発生するのを防止 |
| オフセット補正抵抗機能 | 微小抵抗測定において誤差を生じる原因になる熱起電力による影響を除去 |
| 10 Ωの抵抗測定範囲 | 低抵抗値の測定における精度が向上 |
| 温度測定（RTDおよび熱電対）のサポートを含む15種類の測定機能 | システムを構築する際の機器追加コストの最小化 |
| プラグイン・スイッチ・カード（オプション）によるマルチポイント測定 | 自己完結型マルチポイント・スイッチ／測定ソリューションの構築を簡素化 |
| データシート | アクセサリ | 概要 |
|---|---|---|
| 表示（View） データシート | 2000-SCAN | スキャナ・ボード |
| 表示（View） データシート | 2001-TCSCAN | THERMCPL／汎用スキャン・カード |
| 表示（View） データシート | 4288-1 | シングル固定ラック・マウント・キット |
| 表示（View） データシート | 4288-2 | デュアル固定ラック・マウント・キット |
| 表示（View） データシート | 5805 | ケルビン・プローブ、0.9m［3 FT］ |
| 表示（View） データシート | 5805-12 | ケルビン・プローブ、3.6m［12 FT］ |
| 表示（View） データシート | 7009-5 | 1.5m［5 FT］、シールドRS-232ケーブル |
| 表示（View） データシート | KPCI-488LPA | ロー・プロファイルIEEE-488インタフェース・ボード |
| 表示（View） データシート | KUSB-488B | IEEE-488.2 USB-GPIBインタフェース・アダプタ |
PCから機器を操作
KickStartソフトウェアを使用すると、テストや測定が高速化され、イノベーションが促進されます。PC用の機器制御ソフトウェアであるKickStartを使用すれば、テストのセットアップ、テストの実行、データの可視化を素早く簡単に行うことができます。KickStartがデータを直ちにプロットし、読み値テーブルのデータの統計概要がすぐに表示されます。解析結果をすばやく集めて、必要な意思決定をすぐに下すことができます。
- 複数のタイプ機器で個別にまたは同時にテストを実行可能
- 長期的な記録に役立つデータの自動エクスポート
- 保存されたテスト設定を利用してすばやくテストを再現
- 内蔵のプロット／比較／統計ツールを使用して、測定値の異常や傾向をすばやく発見することができます。
- シミュレーションした機器を使用してテストを設定し、実際の機器が使用可能になった後、切り替えが可能
Automated Control from Lab to Fab
Keithley's Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.
- Perform simple 1-off tests or build complex project trees
- Code with Python inside ACS for unlimited flexibility and control
- Manual or automated wafer prober control
- Data management and statistical analysis capabilities
