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【～シリアル通信/パワー/ノイズ/リモート解析～　最新型オシロスコープの活用方法を徹底解説】
このセミナでは1/12発売の最新型5シリーズB MSOオシロスコープを使い、シリアル・バス解析、パワー／モータードライブ解析、ノイズ解析、リモート解析など、様々な計測分野で１台のオシロスコープを最大限に活用する方法をご紹介します。
汎用のオシロスコープを使って最新の計測課題に対応する手法を、是非ご確認ください。

昨年秋に開催した「2021技術セミナ・シリーズ」で再配信のご要望を多く頂いた「高速ディスプレイ・インタフェース」「MIPI」「車載カメラ・インタフェース」の３セッションをこの度、再配信いたします。
最新規格及び計測課題に応えるテスト・ソリューションをご紹介します。
※全セッション日本語のWEBセミナです。講師のライブQ＆Aもご用意しています。

このセミナーでは、正しい校正を行なうために必要な、基本的な校正の考え方についてまとめました。計測機器を適切に維持管理するためには、正しい校正の理解が必要となります。

■ 対象者

• 初めて計測機器の校正管理に携わる方
• 計測機器の正しい校正方法を学びたい方

■ 所要時間　35分

Do you know that Tektronix releases quarterly firmware updates for our beloved 4, 5 and 6 Series Mixed Signal Oscilloscope? We continuously gather your feedbacks and comments as we know that your measurement needs are ever-evolving. The firmware update will make sure that your voice and needs are taken care of.

Join this session and learn what are the latest addition that we have for your oscilloscope:
- New Features
- New Serial Bus Support
- New Applications
- Bug Fixes

Register today!

Measurements and analysis on three-phase power systems are inherently more complex than on single-phase systems. Although oscilloscopes can capture voltage and current waveforms with high sample rates, further calculations are required to produce key power measurements from the data.

Learn how Inverter Motor and Drive Analysis (IMDA) software from Tektronix makes it easier than ever to perform three-phase analysis and correlation of control timing and power output characteristics on devices such as AC induction motors, permanent magnet synchronous motors (PMSM), and brushless DC (BLDC) motors. Sign up to watch on demand.

４回にわたってソースメータ(SMU)による試験効率化の方法を徹底解説ソースメータ（SMU）とは？
車載Ethernet 電源やマルチメータと何が違う？皆様からよく頂くご質問にお答えし、SMUの基礎から測定実例や応用アプリケーションなどを交えた入門セミナがオンデマンドでご視聴いただけます。 より深くご理解頂くために、４回にわたって、仕組みから様々な測定事例までSMUによる試験効率化の方法を徹底解説しています。ぜひご視聴ください。

• 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源／電子負荷性能について
• SMUの仕組みとよく使われる機能のご紹介
• SMUを使った代表的な測定事例のご紹介
• ソフトウェアを使ったSMUの自動計測事例

Learn more about the snapback phenomenon and Keithley's solution to tackle this challenging topic in semiconductor test and measurement.

Gain insight into compliance, characterization and verification test challenges surrounding the new USB4 standard which delivers an aggregated data rate of 40Gbps over the USB Type-C connector.

Are the bit errors in your data caused by the power supply or sources inside the digital channel?

Let's end the dispute by examining the connection between jitter and power integrity. We'll highlight sources of noise likely to cause jitter on serial data lines and look at other power analysis methods from 3-phase inverter analysis to isolated probing.

In this on-demand webinar, will learn how to:
- Detect ripple and its effects on a high-speed serial clock using power rail analysis software
- Mitigate signal integrity problems caused by the PDN (power distribution network)
- See how additional capabilities of modern oscilloscopes make complex power measurements easier and more repeatable