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應用/產業

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2024 H2 Learing Center Seminar
現場研討會

數位量測學習中心 測試菁英養成班

9/24/2024 - 10/24/2024

9:30 AM - 4:30 PM CST

【精準量測全解析 技能提升新指南】

面對科技的不斷更迭,技術知識始終是所有基礎的基石。太克科技【數位量測學習中心 測試菁英養成班】專為工程師精心策劃,聚焦日常工作中最常使用且最具挑戰性的量測工具。

本次研討會的精選課程涵蓋示波器、探棒、電錶及 SourceMeter 等工具的基礎與進階應用。不論您是剛入門的新手,還是經驗豐富的專家,都能找到適合自己的學習內容,是協助您強化專業實力並邁向測試菁英的絕佳機會。

座位有限、先報先贏,立即預定您的席次,讓您的測試技能邁向新高度!

半導體

應用/產業

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WEBセミナ

網路研討會

テクトロニクス・イノベーション・フォーラム2024オンライン

10/9/2024 - 11/27/2024

9:30 AM - 11:40 AM JST

【10/9(水)~11/27(水)にかけて全16セッションを配信する充実のセミナ・イベント】
ハイパワー半導体、高速通信インタフェース、高速伝送路、RF解析、電源設計・評価関連などの計測ソリューションに加え、初心者向けの自動計測入門、微小電圧電流測定、オシロスコープの使い方応用などのセミナもご用意しております。ぜひご登録ください。

應用/產業

亞太地區

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対面セミナ

現場研討會

テクトロニクス計測技術セミナ・プローブ編 in 名古屋

11/22/2024

10:00 AM - 4:00 PM JST

名古屋市および周辺地域のお客様に向け、計測の基礎となるプロービングの入門講座、および電源評価における最新の技術トレンドや計測ソリューション、プローブの活用術をご紹介いたします。

10:00 - 12:00 プローブ入門セミナ
12:00 - 13:30 質疑応答・実機デモ 昼食休憩
13:00 - 15:30 プローブ活用術セミナ
15:30 - 16:00 質疑応答・実機デモ

会場では実機デモの他、計測関連のお悩みや計測課題などもお気軽にご相談いただけます。

Power Electronics

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網路研討會

計測機器の基本的な取扱いについて(初級者用) ‐ 校正の必要性、計測機器の維持管理‐

視需求

このセミナーでは、正しい校正を行なうために必要な、基本的な校正の考え方についてまとめました。計測機器を適切に維持管理するためには、正しい校正の理解が必要となります。

■ 対象者
  • 初めて計測機器の校正管理に携わる方
  • 計測機器の正しい校正方法を学びたい方
■ 所要時間 35分

校驗和測試服務

應用/產業

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オンデマンドWebセミナ

Oscilloscope Primer by 2 series on demand

オシロスコープ入門 - 初心者向け (前編/後編 )

視需求

テクトロニクス最新型2シリーズ・オシロスコープを使った初心者向けのオシロスコープ入門セミナです。
オシロスコープ使用にあたって覚えておくべき基本項目について説明します。
プローブ補正、トリガ設定、自動測定など、前編/後編で解説します。
間違った操作の防ぎ方、オシロスコープの使用における誤解など基本にして必須の知識をご説明します。

オシロスコープ入門 前編 【所要時間:47分】
オシロスコープ入門 後編 【所要時間:54分】

相容性和預相容性

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網路研討會

[On Demand] Tektronix 4/5/6 Series MSO Latest New Features

視需求

Do you know that Tektronix releases quarterly firmware updates for our beloved 4, 5 and 6 Series Mixed Signal Oscilloscope? We continuously gather your feedbacks and comments as we know that your measurement needs are ever-evolving. The firmware update will make sure that your voice and needs are taken care of.

Join this session and learn what are the latest addition that we have for your oscilloscope:
- New Features
- New Serial Bus Support
- New Applications
- Bug Fixes

Register today!

嵌入式設計

應用/產業

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WEBINAR

網路研討會

[On Demand] Optimizing the Battery Performance of Everyday Devices with Keithley

視需求

As battery-powered devices have become a staple of everyday life, battery performance has become a critical factor in device design. Due to the criticality of battery performance, along with the wide range of battery types, test and design engineers working with battery powered devices need a faster way to optimize their device’s performance and battery life.

When Keithley’s KickStart Software, and the KickStart Battery Simulator App is paired with the 2281S, battery model generation becomes simple. KickStart Software’s intuitive interface, model editing abilities, and battery model repository allow the test and design engineer to create battery models at different conditions and test their device against these various models quickly.

Join us for this live webinar to learn more on Keithley solution today!

工業用

應用/產業

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[On Demand] Speeding Up Test and Analysis of Your Inverters and Motor Drives

視需求

Measurements and analysis on three-phase power systems are inherently more complex than on single-phase systems. Although oscilloscopes can capture voltage and current waveforms with high sample rates, further calculations are required to produce key power measurements from the data.

Learn how Inverter Motor and Drive Analysis (IMDA) software from Tektronix makes it easier than ever to perform three-phase analysis and correlation of control timing and power output characteristics on devices such as AC induction motors, permanent magnet synchronous motors (PMSM), and brushless DC (BLDC) motors. Sign up to watch on demand.

電源效率和 IoT

應用/產業

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網路研討會

[On Demand] Characterization of Snapback for ESD Protection Devices

視需求

Learn more about the snapback phenomenon and Keithley's solution to tackle this challenging topic in semiconductor test and measurement.

半導體

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Webinar

Got Jitter? Diagnosing Power Integrity and Signal Integrity Problems

Are the bit errors in your data caused by the power supply or sources inside the digital channel? Let's end the dispute.

Webinar

SiC/GaN Components: 5 Key Tests

Learn techniques for high power characterization of Silicon Carbide (SiC) and Gallium Nitride (GaN) components.