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피드백
MP5000 시리즈 모듈형 정밀 테스트 시스템
Tektronix MP5000 모듈형 정밀 시험 시스템은 확장을 고려한 설계로 성장할 준비가 되어 있습니다. MU와 PSU 모듈을 혼합해 사용하면서 확장하세요. 높은 채널 밀도와 빠른 모듈 교체로 다운타임을 최소화하고 처리량을 극대화합니다. 또한 Tektronix는 정밀성과 지원을 바탕으로 차세대 테스트를 지원하겠습니다.
3
최대 6
2
1U / 전체 랙
Continuously Customizable. Endlessly Adaptable.
직관적인 컨트롤
MP5000 알아보기
- 성능 최적화
- 다운타임 최소화
- 유연한 확장성을 고려한 설계
- 테스트 자동화
하나의 메인프레임 — 더 많은 옵션
엔지니어들이 새로운 애플리케이션과 요구 사항에 맞춰 전환할 수 있도록 지원하는 플랫폼입니다.
- 하나의 메인프레임에서 SMU/PSU 모듈을 조합하여 사용하세요.
- 랙/스택/링크를 통해 메인프레임을 함께 사용하여 검증 환경부터 생산환경까지 확장 가능합니다.


다운타임 최소화
주요 특징
- 간편한 모듈 분리 및 교체
- 슬롯별 독립 전원 제어로 메인프레임 다운타임 방지
- 모듈 단위 교정으로 장비 유지보수 시간 제거
- 최신형 터치스크린과 웹 인터페이스로 더 빠른 인사이트와 문제 해결 가능
성능 최적화
- SMU 모듈을 통한 pA 수준의 초저전류 정밀 측정으로 애플리케이션 맞춤 성능 제공
- 새로운 PSU은 계측기 내장형 TSP(Test Script Processor) 기능을 지원합니다.
- 채널당 50W의 전력을 공급하는 전원 공급 모듈로 차세대 디바이스를 구동합니다.


속도, 안전성 그리고 동기화
- 이 컴팩트한 1U 플랫폼은 높은 처리량과 병렬 테스트를 위해 설계되었으며, 최대 6개의 독립 채널을 제공하며 빠른 보호 기능으로 기기를 안전하게 유지합니다.
- 1MSa/s ADC로 상세한 파형을 캡처하고, 최대 32개의 장비와 1마이크로초 미만의 동기화를 쉽게 수행하는 18개의 디지털 I/O 핀과 TSP-Link로 쉽게 규모를 키울 수 있습니다.
- 웹 인터페이스, Python, IVI 드라이버, 또는 TSP 스크립팅 중 선호하는 제어 방법을 선택하고, USB 3.0과 기가비트 이더넷을 사용해 데이터를 빠르고 안정적으로 스트리밍하세요.
정밀 테스트 시스템을 구축하세요
메인프레임
모델 | 설명 | 연결 | 데이터 시트 | 정가 | 구성 및 견적 |
---|---|---|---|---|---|
MP5103 | 메인프레임 – 1U, 3슬롯/ 6채널 | USB-C LAN/ 1GigE 이더넷 | 데이터 시트 | US $4,750 | 구성 및 견적 |
MSU 모듈
모델 | 모듈 유형 | 채널 | 최대 전류 범위 | 최대 전압 범위 | 해상도 | 전력 | 데이터 시트 | 정가 | 구성 및 견적 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
MSMU60-2 | SMU | 2 | 1.5 A | 60V | 100fA / 500nV |
30W | 데이터 시트 | US $12,500 | 구성 및 견적 |
PSU 모듈
모델 | 모듈 유형 | 채널 | 최대 전류 | 최대 전압 | 전력 | 데이터 시트 | 정가 | 구성 및 견적 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
MPSU50-2ST | 전원 공급 장치 | 2 | 5 A | 50V | 채널당 50W | 데이터 시트 | US $2,100 | 구성 및 견적 |
MP5000 시리즈 정밀 테스트 시스템 모듈
교체 가능한 PSU 및 SMU 모듈을 통해 다운타임이나 재설계 없이 시스템 업그레이드, 교체, 재구성이 가능합니다.
MSU 모듈
모델 | 모듈 유형 | 채널 | 최대 전류 범위 | 최대 전압 범위 | 해상도 | 전력 | 데이터 시트 | 정가 | 구성 및 견적 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
MSMU60-2 | SMU | 2 | 1.5 A | 60V | 100fA / 500nV |
30W | 데이터 시트 | US $12,500 | 구성 및 견적 |
PSU 모듈
모델 | 모듈 유형 | 채널 | 최대 전류 | 최대 전압 | 전력 | 데이터 시트 | 정가 | 구성 및 견적 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
MPSU50-2ST | 전원 공급 장치 | 2 | 5 A | 50V | 채널당 50W | 데이터 시트 | US $2,100 | 구성 및 견적 |
다양한 애플리케이션에 적합

VCSEL 모듈 기능 테스트
고속 LIV(광-전류-전압) 시험으로 VCSEL 모듈을 신속히 특성화합니다. MP5000은 레이저 다이오드에 정밀한 전류 펄스를 공급하고 포토다이오드 응답을 측정하여, 빠르고 동기화된 정확한 광 성능 검증을 가능하게 합니다.
- 1U 메인프레임당 최대 6채널 지원
- 채널 간 <500ns 동기화
- SMU 모듈 내 1 MSa/s 디지타이저
- 유연한 셋업을 위한 향상된 소스-센스 전압 기능
반도체 소자 기능 시험
AMS 특성 평가나 생산 과정에서 센서, IC, 포토다이오드의 성능을 검증합니다. MP5000은 정밀한 전력 공급과 측정을 통해 유연하고 고처리량의 시험을 지원하며, 최종 조립 전에 장치가 규격을 충족하는지 확인하는 데 이상적입니다.
- 하나의 메인프레임에서 SMU와 PSU 모듈 혼용 가능
- 1U 메인프레임당 최대 6채널 지원
- 최저 100 nA 범위까지 저전류 측정 가능
- 스위치 매트릭스 등 다른 계측기와의 동기화 제어 지원


광 트랜시버용 레이저/모듈 특성 평가
검증 단계부터 생산 단계까지 빠르고 동기화된 LIV 스윕을 생성하여 레이저 및 변조기의 성능을 보장합니다. MP5000은 저전류 측정 정밀도와 높은 측정 속도를 결합하여, 특성 동작을 전체적으로 파악할 수 있도록 합니다.
- 최저 100 nA 범위까지 저전류 측정 가능
- 1 MSa/s 샘플 속도의 디지타이저
- 유연한 셋업을 위한 향상된 소스-센스 전압 기능
- 자동화를 위한 TSP Toolkit
귀사의 애플리케이션에 적합한 정밀 테스트 시스템
구축을 지원합니다.

Accelerate Innovation with Automated Testing

계측기 내 처리(On-Instrument Processing)로 시장 출시 가속화
MP5000과 지원되는 SMU/PSU에는 빠르고 확장 가능한 자동화를 위해 설계된 내장형 TSP 프로세서가 탑재되어 있습니다. TSP를 통해 시험 시간을 단축하는 것뿐 아니라 더 스마트한 시험 전략을 구축할 수 있습니다.
- 쉬운 자동화 - 사람이 읽기 쉬운 TSP 명령어로 초보자와 전문가 모두 직관적인 스크립팅 가능합니다.
- 모듈형 및 확장성 – 스크립트 로딩과 함수 캡슐화를 통한 사용자 정의 API 작성으로 재사용성과 유지보수성 확보합니다.
- 가속화된 실행 – PC-계측기 지연 없이 계측기에서 직접 전체 시험 루틴 실행합니다.
- 정밀 동기화 – TSP-Link™를 통해 MP5000 메인프레임 간 마이크로초 이하 동기화로 고속 병렬 시험 지원합니다.
코드부터 노코드까지 다양한 자동화 옵션 지원
MP5000은 다양한 자동화 경로를 지원하여 워크플로우 통합 및 가속화가 가능합니다:
- 드라이버 기반 자동화 – 텍트로닉의 Python 드라이버 tm_devices 베타를 사용하여 코드 기반으로 유연하게 제어하세요. (IVI-C, IVI.NET, LabVIEW 지원 예정)
- TSP Toolkit – 간편한 TSP 스크립팅을 위해 설계된 무료 Visual Studio Code 확장 프로그램으로, 자동 완성, 구문 검증이 가능하며, 라이브 스크립트 모니터링을 위한 장비 내 디버거를 갖추었습니다. [베타] I-V 특성 평가용 자동 TSP 스크립트 생성 기능 제공
- 노코 자동화(출시 예정) - ACS(Automated Characterization Suite) 소프트웨어를 통해 코드 작성 없이 반도체 특성 평가 시험 시퀀스 구축 가능합니다.
TSP 예제 코드를 사용하여 자동화를 시작하세요.


실시간 가시성으로 가동 시간 극대화
빌트인 도구로 생산을 중단하지 않고도 문제를 조기에 식별하고 해결할 수 있습니다.
- 실시간 모니터링 – 시험 실행을 실시간으로 확인하여 예상대로 동작하는지 보장합니다.
- 터치스크린 및 웹 인터페이스 – 장비에서 직접 또는 원격 브라우저로 연결과 설정 재확인 가능합니다.
- 비침투적 디버깅 – 시험 시스템을 중단하지 않고 기능 검증 및 문제 해결 가능합니다.
- 간소화된 설정 및 개발 – 설정 및 시험 생성 단계에서 스크립트와 시스템 동작 디버깅 가능합니다.