Serielle Hochgeschwindigkeitskommunikation

Automated Testing and Debugging

High-speed digital standards are quickly evolving to support the performance demands of our data driven world. Next generation serial standards and data communication requirements are bringing new test challenges, pushing the limits of today’s compliance and debug tools. From design and simulation, analysis, debug, and compliance testing, Tektronix provides automated electrical test solutions to optimize performance, speed up validation cycles and accelerate time-to-market.

Accurate, Repeatable Testing of High-Performance Computing Standards

The demand for greater data throughput and increased memory capacity continues to grow in such data-intensive markets as data center, artificial intelligence (AI), and high-performance computing. Higher data transfer rates lead to complex designs that push the boundaries of signal integrity and require higher-performance measurements for compliance, debugging and validation. Tektronix's automated test solutions equip engineers to test their latest designs by addressing these challenges with accuracy and repeatability.

PCI Express (PCIe) and CXL

Memory (DDR and LPDDR)

Storage (SAS and SATA)

Reduced Time to Test Consumer Technologies

The pace of innovation is stimulating the demand for newer and faster consumer devices. The standards underlying their development introduce new test challenges in terms of increased data rates and design complexity. Tektronix test solutions provide accurate, repeatable measurements and reduced test times for conformance to the latest specifications.

Display (DisplayPort and HDMI)

MIPI (M-Phy, D-Phy, C-Phy and UFS)

USB

Thunderbolt

Comprehensive Tools for Ethernet Device Designs

Ethernet provides network connectivity ranging from hyper-scale data centers and enterprise systems to automotive and industrial applications. Tektronix offers comprehensive toolsets for testing, developing, and debugging the physical layer of IEEE 802.3 Ethernet devices in these ecosystems.

Ethernet (10M to 400G and beyond)

Advanced Measurement and Analysis Tools

Tektronix’ SDLA, PAMJET, and DPOJET software offers powerful signal analysis tools for high-speed serial standards. Whether analyzing the latest PAM4 signals using PAMJET, de-embedding waveforms with SDLA, or performing jitter/noise analysis with DPOJET, Tektronix offers the tools you need.

Jitter Measurement and Timing Analysis (DPOJet)

De-embedding and Receiver Equalization (SDLA)

Electrical and Timing analysis of PAM signals (PAMJet)

Ressourcen

PAM4-Signalisierung für PCIe Gen6

Bereiten Sie sich auf den nächsten Wendepunkt von PCI Express vor, indem Sie sich diese Diskussion über Validierungsanforderungen für PCI Express Gen6 ansehen. Wir sehen uns neu eingeführte Sendermessungen, einschließlich SNDR und unkorreliertem Jitter, an und zeigen eine Kalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagramm für Empfängertests bei 32 GBaud PAM4 mit echten Labordaten.

Die Herausforderungen von USB4-Konformitäts- und Charakterisierungstests überwinden

Sehen Sie sich unser Webinar zum Thema „Herausforderungen von USB4-Konformitäts- und Charakterisierungstests überwinden“ an und erfahren Sie, wie Sie die messtechnischen Herausforderungen im Zusammenhang mit dem neuen USB4-Standard meistern können.

Wesentliche Herausforderungen bei der Prüfung von LPDDR5 DRAM meistern

Lösen Sie wesentliche Herausforderungen bei der Prüfung von LPDDR5 DRAM und erfahren Sie mehr über Tipps und Techniken, mit denen Sie die Design-Herausforderungen meistern können, die sich aus diesem mobilen Speicherstandard ergeben.

Anwendungshinweis

Automatisierte Konformitätsprüfung der physikalischen Schicht von MIPI D-PHY

Verschaffen Sie sich einen Überblick über die physikalische Schicht von MIPI D-PHY und die elektrischen Signale, einschließlich wichtiger Prüfungen und Diskussionen über Tastköpfe, Vorrichtungen und Testaufbauten.

Video and Webinar

Ethernet-Demonstration mit Sender Synopsys PHY und 112 Gbit/s

Mit der bevorstehenden Ratifizierung von 802.3ck steigen insbesondere die Anforderungen an elektrische Charakterisierungen. Diese Demo zeigt die Prüfungen der nächsten Generation für eine End-to-End-Charakterisierung eines Empfängers Synopsys® 112G PHY IP mit 53 GBd.

White Paper

Validierung und Fehlerbeseitigung für DDR5-Speicher

Die Branche wechselt von DDR4 zur nächsten Generation des DDR-Arbeitsspeicherstandards. DDR5 bringt neue Herausforderungen mit sich, die bei seiner Implementierung und Verifizierung bewältigt werden müssen.