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Modellieren, Messen und Optimieren Sie Ihren Hochgeschwindigkeitssignalpfad
Die genaue Messung von Hochgeschwindigkeitssystemen erfordert Sichtbarkeit über den gesamten Signalpfad – vom sendenden Prüfling über alle Tastköpfe und Verbindungen bis hin zum Empfänger.
Die Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM) von Tektronix lässt sich nahtlos in die MSO Oszilloskope der Serie 5 B, MSO der Serie 6 B und DPO der Serie 7 integrieren. Damit können Sie Kabel und Vorrichtungen de-embedden, verschiedene Kanalverlustprofile embedden und die Empfängerentzerrung emulieren oder direkt auf Ihrem Oszilloskop mit der Senderentzerrung experimentieren.
SIM wurde für die frühe Inbetriebnahme, die Einhaltung von Vorschriften und die Fehlersuche entwickelt und bietet eine intuitive Benutzererfahrung, die Ihnen hilft, die Entwicklung zu beschleunigen und leistungsstarke Produkte mit Zuversicht zu liefern.
Erfahren Sie, wie es geht:
- De-embedden oder Entfernen von Signalpfad-Effekten mithilfe von S-Parametern
- Einbetten von Verbindungsmerkmalen aus der Praxis
- Entzerrung anwenden, um geschlossene Augen wiederherzustellen und die Leistung serieller Verbindungen zu validieren
- Vollständige Sichtbarkeit in jeder Phase des Signalpfads in Ihrem Hochgeschwindigkeitsdesign erreichen
Die Auswirkungen des Kanalverlusts werden durch De-embedden beseitigt, was zu einer größeren Augenöffnung führt.
De-Embedding oder Entfernung von Signalpfad-Effekten
Bei hohen Frequenzen führen selbst gut konzipierte Aufbauten zu Verzerrungen – durch Tastkopfbelastung, Kabelverluste und Vorrichtungsreflexionen –, die das wahre Verhalten des Prüflings in Hochgeschwindigkeits-, HF- und schnell schaltenden Leistungsdesigns überdecken können.
Die Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM) von Tektronix wendet S-Parameter-De-Embedding an, um zu zeigen, wie das Signal auf dem Prüfling aussieht, wobei Verluste, Reflexionen und Verzögerungen aus dem Aufbau eliminiert werden.
VDUT(f) = Vmeas(f) / H(f)
wobei H(f) die Übertragungsfunktion (aus den S-Parametern) des Messpfades ist
De-Embedding ist besonders wichtig, wenn Messartefakte das Verhalten des Prüflings überschatten, wenn direktes Prüfen physikalisch nicht praktikabel ist oder wenn die Konformität Sichtbarkeit an standardisierten Testpunkten (TP0, TP1, TP2 usw.) erfordert – wie für PCIe, USB, DDR und mehr definiert. SIM hilft Ihnen, die Messebene praktisch dorthin zu verschieben, wo es darauf ankommt.
Einbetten von Verbindungsmerkmalen aus der Praxis
Ganz gleich, ob Sie Worst-Case-Szenarien untersuchen, Verbindungskonfigurationen vergleichen oder die Konformität der physikalischen Schicht validieren – durch das Einbetten können Sie die Leistung vor der Bereitstellung zuverlässig beurteilen.
Durch das Einbetten können Ingenieure reale Verbindungen wie Backplanes, Kabel oder Kanäle virtuell einfügen. Mit SIM können Sie ein Worst-Case-Kabel oder eine PCB-Baugruppe zwischen einem Sender- und Empfängermodell einbetten, um zu sehen, wie sich zusätzliche Einfügungsdämpfung und Reflexionen auf die Verbindungsmarge bei höheren Datenraten auswirken.
Mit SIM können Sie S-Parameter-Modelle anwenden, um diese Umgebungen direkt auf dem Oszilloskop zu simulieren, was eine Margin-Analyse und Validierung der Signalintegrität ermöglicht, ohne dass physische Hardware erstellt oder ausgetauscht werden muss.
Reduzierte Augenhöhe und Augenweite aufgrund von ISI durch eingebettete Verbindungseigenschaften.
Konfigurieren Sie die Empfängerentzerrung in SIMA, um das reale Verhalten zu simulieren
Entzerrung anwenden, um geschlossene Augen wiederherzustellen und die Leistung serieller Verbindungen zu validieren
Entzerrung (EQ) kompensiert Kanalverluste und Verzerrungen. Mit SIM Advanced (SIMA) können Empfängerentzerrung (Rx EQ) und Senderentzerrung (Tx EQ) mit Einbetten/Ausbetten direkt auf dem Oszilloskop verwendet werden, um die tatsächliche Leistung des Geräts aufzuzeigen, was für Designuntersuchungen und verbesserte Margen entscheidend ist.
Wenn eine direkte Prüfung nicht praktikabel ist, verwenden Sie SIMA, um die Effekte eines bekannten Kanals einzubetten, und wenden Sie dann die Rx-Entzerrung (CTLE, FFE, DFE) an, um das Signal so zu rekonstruieren, wie es am Entscheidungspunkt des Rx erscheinen würde.
Wenden Sie mit Tx EQ Präemphase oder Deemphase an, um das Signal zu formen, bevor es in den Kanal gelangt, und ermöglichen Sie so eine Tx-Optimierung.
Arbeiten Sie schneller mit der EQ-Optimierung – bestimmen Sie automatisch die Rx-Konfiguration, die das beste Augen- und standardbasierte EQ liefert – wählen Sie einen Standard aus einem Dropdown-Menü für vorkonfigurierte Rx-Einstellungen.
Vollständige Sichtbarkeit des Signalpfads
Wechseln Sie nahtlos von der Analyse auf Komponentenebene – wie etwa der Validierung von S-Parametern oder Impedanzen oder der Visualisierung von Systemeigenschaften über Smith-Diagramme – zu einer umfassenden Analyse auf Systemebene von Größe, Phase, Impuls, Sprungantwort, Jitter und mehr.
Durch die Unterstützung von kaskadierten S-Parameter-Modellen und praktisch unbegrenzten Testpunkten können Sie parallele Pfade und komplexe Signalketten simulieren und so schnell und präzise untersuchen, iterieren und optimieren.
De-embedden Sie Prüfvorrichtungen, betten Sie Kanalmodelle ein und wenden Sie Entzerrung an, um Ihr Signal in seiner tatsächlichen Form zu sehen. Die Tektronix SIM-Software arbeitet mit Ihrem Oszilloskop, um sowohl die ursprünglichen als auch die korrigierten Ergebnisse für schnelle, direkte Vergleiche und zuverlässige „Was-wäre-wenn“-Analysen zu bewahren.
Erfahren Sie mehr über die Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM)
Die Konfiguration in SIM erzeugt Augendiagramme, die eine erhöhte Signalverzerrung aufgrund von Impedanzdiskontinuitäten im Signalpfad aufzeigen.
