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Modellieren, Messen und Optimieren Sie Ihren Hochgeschwindigkeitssignalpfad
Die genaue Messung von Hochgeschwindigkeitssystemen erfordert Sichtbarkeit über den gesamten Signalpfad – vom sendenden Prüfling über alle Tastköpfe und Verbindungen bis hin zum Empfänger.
Die Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM) von Tektronix lässt sich nahtlos in die MSO Oszilloskope der Serie 5 B, MSO der Serie 6 B und DPO der Serie 7 integrieren. Damit können Sie Kabel und Vorrichtungen de-embedden, verschiedene Kanalverlustprofile embedden und die Empfängerentzerrung emulieren oder direkt auf Ihrem Oszilloskop mit der Senderentzerrung experimentieren.
SIM wurde für die frühe Inbetriebnahme, die Einhaltung von Vorschriften und die Fehlersuche entwickelt und bietet eine intuitive Benutzererfahrung, die Ihnen hilft, die Entwicklung zu beschleunigen und leistungsstarke Produkte mit Zuversicht zu liefern.
Erfahren Sie, wie es geht:
- De-embedden oder Entfernen von Signalpfad-Effekten mithilfe von S-Parametern
- Einbetten von Verbindungsmerkmalen aus der Praxis
- Entzerrung anwenden, um geschlossene Augen wiederherzustellen und die Leistung serieller Verbindungen zu validieren
- Vollständige Sichtbarkeit in jeder Phase des Signalpfads in Ihrem Hochgeschwindigkeitsdesign erreichen
Die Auswirkungen des Kanalverlusts werden durch De-embedden beseitigt, was zu einer größeren Augenöffnung führt.
De-Embedding oder Entfernung von Signalpfad-Effekten
Bei hohen Frequenzen führen selbst gut konzipierte Aufbauten zu Verzerrungen – durch Tastkopfbelastung, Kabelverluste und Vorrichtungsreflexionen –, die das wahre Verhalten des Prüflings in Hochgeschwindigkeits-, HF- und schnell schaltenden Leistungsdesigns überdecken können.
Die Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM) von Tektronix wendet S-Parameter-De-Embedding an, um zu zeigen, wie das Signal auf dem Prüfling aussieht, wobei Verluste, Reflexionen und Verzögerungen aus dem Aufbau eliminiert werden.
VDUT(f) = Vmeas(f) / H(f)
wobei H(f) die Übertragungsfunktion (aus den S-Parametern) des Messpfades ist
De-Embedding ist besonders wichtig, wenn Messartefakte das Verhalten des Prüflings überschatten, wenn direktes Prüfen physikalisch nicht praktikabel ist oder wenn die Konformität Sichtbarkeit an standardisierten Testpunkten (TP0, TP1, TP2 usw.) erfordert – wie für PCIe, USB, DDR und mehr definiert. SIM hilft Ihnen, die Messebene praktisch dorthin zu verschieben, wo es darauf ankommt.
Einbetten von Verbindungsmerkmalen aus der Praxis
Ganz gleich, ob Sie Worst-Case-Szenarien untersuchen, Verbindungskonfigurationen vergleichen oder die Konformität der physikalischen Schicht validieren – durch das Einbetten können Sie die Leistung vor der Bereitstellung zuverlässig beurteilen.
Durch das Einbetten können Ingenieure reale Verbindungen wie Backplanes, Kabel oder Kanäle virtuell einfügen. Mit SIM können Sie ein Worst-Case-Kabel oder eine PCB-Baugruppe zwischen einem Sender- und Empfängermodell einbetten, um zu sehen, wie sich zusätzliche Einfügungsdämpfung und Reflexionen auf die Verbindungsmarge bei höheren Datenraten auswirken.
Mit SIM können Sie S-Parameter-Modelle anwenden, um diese Umgebungen direkt auf dem Oszilloskop zu simulieren, was eine Margin-Analyse und Validierung der Signalintegrität ermöglicht, ohne dass physische Hardware erstellt oder ausgetauscht werden muss.
Reduzierte Augenhöhe und Augenweite aufgrund von ISI durch eingebettete Verbindungseigenschaften.
Konfigurieren Sie die Empfängerentzerrung in SIMA, um das reale Verhalten zu simulieren
Entzerrung anwenden, um geschlossene Augen wiederherzustellen und die Leistung serieller Verbindungen zu validieren
Entzerrung (EQ) kompensiert Kanalverluste und Verzerrungen, um die Augenöffnung wiederherzustellen und Timing- sowie Amplitudenmargen wiederzugewinnen, während das De-Embedding/Embedding die gemessenen Effekte spezifischer Vorrichtungen oder Verbindungen mathematisch entfernt oder anwendet. Zusammen verwendet, bieten diese Tools eine klare und präzise Sicht auf die tatsächliche Leistung eines Geräts.
Verwenden Sie die Emulation der Empfängerentzerrung (Rx EQ), wenn eine direkte Prüfung nicht praktikabel ist – betten Sie die Effekte eines bekannten Kanals ein und wenden Sie dann die Rx-Entzerrung (CTLE, FFE, DFE) an, um das Signal so zu rekonstruieren, wie es am Entscheidungspunkt des Empfängers erscheinen würde.
Mit der Senderentzerrung (Tx EQ) können Sie das übertragene Signal direkt auf dem Oszilloskop aufbereiten, indem Sie eine Präemphase oder Deemphase anwenden, um das Signal zu formen, bevor es in den Kanal gelangt, und vorhersagen, wie sich unterschiedliche Tx-Einstellungen auf die Gesamt-Signalintegrität auswirken.
Mit SIM Advanced (opt. SIMA) emulieren Sie Kanalbedingungen und wenden dann sowohl Tx- als auch Rx-Entzerrungsmodelle direkt auf dem Oszilloskop an und stimmen sie ab. Das ermöglicht EQ-Optimierung, „Was-wäre-wenn“-Designuntersuchungen und verbesserte Augendiagramme, um Tests von Standards für serielle Datenübertragung im Hochgeschwindigkeitsbereich zu bestehen.
Hinweis: SIMA wird voraussichtlich Anfang 2026 verfügbar sein.
Vollständige Sichtbarkeit des Signalpfads
Wechseln Sie nahtlos von der Analyse auf Komponentenebene – wie etwa der Validierung von S-Parametern oder Impedanzen oder der Visualisierung von Systemeigenschaften über Smith-Diagramme – zu einer umfassenden Analyse auf Systemebene von Größe, Phase, Impuls, Sprungantwort, Jitter und mehr.
Durch die Unterstützung von kaskadierten S-Parameter-Modellen und praktisch unbegrenzten Testpunkten können Sie parallele Pfade und komplexe Signalketten simulieren und so schnell und präzise untersuchen, iterieren und optimieren.
De-embedden Sie Prüfvorrichtungen, betten Sie Kanalmodelle ein und wenden Sie Entzerrung an, um Ihr Signal in seiner tatsächlichen Form zu sehen. Die Tektronix SIM-Software arbeitet mit Ihrem Oszilloskop, um sowohl die ursprünglichen als auch die korrigierten Ergebnisse für schnelle, direkte Vergleiche und zuverlässige „Was-wäre-wenn“-Analysen zu bewahren.
Erfahren Sie mehr über die Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM)
Die Konfiguration in SIM erzeugt Augendiagramme, die eine erhöhte Signalverzerrung aufgrund von Impedanzdiskontinuitäten im Signalpfad aufzeigen.
