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MIPI Interface - PCIe Automated Test

Präzise, wiederholbare Messungen mit PCIe

Seit fast zwei Jahrzehnten ist die Technologie PCI Express® der weit verbreitete Standard für Hochgeschwindigkeitsverbindungen serieller Schnittstellen. Die neuesten PCIe®-Spezifikationen richten sich an datenintensive Märkte wie künstliche Intelligenz/maschinelles Lernen und Hochleistungs-Computing.

Unsere automatisierten PCIe-Prüflösungen reduzieren die Komplexität von Prüfungen durch die Übernahme von Einstellungen und Kalibrierung erheblich und ermöglichen in Kombination mit rauscharmer Messhardware schnelle, genaue und wiederholbare Signalintegritätsmessungen. Als aktives stimmberechtigtes Mitglied der PCI-SIG®-Arbeitsgruppen verfügen wir über Fachwissen für die Validierung von Sendern, Empfängern, Referenztakten und Phasenregelschleifen.

PCI Express, PCIe und PCI-SIG sind eingetragene Marken und/oder Dienstleistungsmarken von PCI-SIG.

Umfassende automatisierte Prüflösungen für PCI Express

Branchenführende, PCIe 6.0 Gold Suite-zertifizierte Testlösungen

PCIe® 6.0 ist ein vielseitiger, serieller Hochgeschwindigkeits-Schnittstellenstandard, der für die Verbindung verschiedener Komponenten in modernen Computersystemen verwendet wird. Es nutzt PAM4-Signalisierung und Vorwärtsfehlerkorrektur (FEC), um eine bahnbrechende Datenübertragungsrate von 64,0 GT/s zu erreichen und so eine schnellere Verarbeitung und reibungslosere Leistung für anspruchsvolle Anwendungen zu ermöglichen.

Die intuitiven Tools von Tektronix, die marktführenden Toolsets, bieten sofort einsatzbereite Unterstützung sowohl für PCIe Base- als auch für CEM-Tests. Messungen des Senders (Tx) einschließlich Signal-Rausch-Verhältnis (SNDR), Jitter- und Augenmessungen sowie erweiterter Instrumentenrauschkompensation. Die Receiver-Lösung umfasst eine assistentengestützte, geführte TP3/TP2-Kalibrierung unter Belastung des Auges, einen Link Equalization (LEQ)-Test und einen Jitter Tolerance (JTOL)-Test.

Wie bei früheren Generationen sind Validierungs- und Konformitätstests für PCIe 6.0 unerlässlich, um die Einhaltung der PCI-SIG-Standards sowohl für BASE als auch für CEM sicherzustellen. Die PCIe 6.0 Tx-Testlösung von Tektronix ermöglicht es Ingenieuren, die neuesten Design- und Validierungsprobleme zu lösen. Für die PCIe 6.0-Empfänger-Testlösung (Rx) haben Tektronix und Anritsu zusammengearbeitet, um eine überragende intuitive Rx-Kalibrierungs- und Testlösung bereitzustellen, indem sie das DPO70000SX-Echtzeitoszilloskop von Tektronix mit dem MP1900A Bit Error Rate Tester (BERT) von Anritsu kombinieren, die beide von Testautomatisierungs- und Analysetools gesteuert werden, die von Tektronix entwickelt und unterstützt werden.

Tektronix ist jetzt ein zugelassener Anbieter von PCIe 6.0 CEM Gold Suite Testlösungen für elektrische Prüfungen sowohl von Sendern als auch von Empfängern.

PCIe 6.0-Empfängerlösung (Rx)

PCIe 6.0 Senderlösung (Tx)

Kontaktieren Sie uns bezüglich Ihrer PCIe 6.0-Testanwendung.

PCIe Rx test setup including test fixture, Device Under Test, Anritsu MP1900A BERT and Tektronix DPO70000SX oscilloscope and compliance test automation software.

Testlösungen für Sender mit PCIe

Unsere Testlösungen für PCIe-Sender gewährleisten Rückwärtskompatibilität, indem sie Validierungs- und Konformitätslösungen für Sender mit PCIe von 2,5 GT/s bis 64,0 GT/s (Gen 1 bis Gen 6) anbieten. Die Unterstützung reicht von der frühen Charakterisierung von Spannung/Timing des Chips bis hin zu Sendermessungen auf Plattformebene und Referenztaktmessungen. Technologieführer von Tektronix stellen sicher, dass diese Lösungen relevant bleiben, indem sie alle technischen Änderungsnachrichten (Engineering Change Notices (ECNs)) einbeziehen und die Workshops zur PCI-SIG-Konformität als genehmigte Lösung unterstützen.

Das neue Oszilloskop DPO der Serie 7 bietet Validierungs- und Konformitätslösungen für PCIe Gen 1-4-Sender zur Unterstützung von BASE-, CEM- und Referenztaktmessungen.

PCIe Gen 1-6 – Datenblatt

Broschüre zum PCIe Gen 5 Tx-Konformitätstest

Oszilloskop DPO der Serie 7

DPO70000SX ATI-Hochleistungsoszilloskope

Mixed-Signal-/Digital-Phosphor-Oszilloskope MSO/DPO70000DX

Niederspannungs-Differenztastköpfe

PCIe Gen1 to Gen5 Transmitter Test

Testlösungen für Empfänger mit PCIe und Phasenregelschleifen

Die Validierung von Empfängern mit PCIe ist aufgrund der Empfindlichkeit der Signalkalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagrammen über einen Hochverlustkanal bemerkenswert schwierig. Die Prüflösungen von Tektronix für Empfänger mit PCIe sorgen dafür, dass Ihr Design bei der erforderlichen Bitfehlerrate gründlich getestet wurde. Unsere intuitiven Schritt-für-Schritt-Tools bieten Trainingsroutinen für den Anritsu Bitfehlerraten-Tester MP1900A, um sicherzustellen, dass Ihr Empfänger genau getestet wird. Automatisierte Tests unterstützen die Kalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagrammen, die neuesten Konformitätstests zur Entzerrung von Sender-Empfänger-Verbindungen, individuelle Bitfehlerraten-Durchläufe und die Charakterisierung der Jitter-Toleranz. Dieses Framework unterstützt auch einfache Phasenregelschleife-Bandbreitemessungen und Peaking-Messungen für Sender.

Webinar zu PCIe Gen 5-Empfängern ansehen

Das Datenblatt für den PCIe Gen1 bis Gen6-Empfänger anzeigen

DPO70000SX ATI-Hochleistungsoszilloskope

Mixed-Signal-/Digital-Phosphor-Oszilloskope MSO/DPO70000DX

DPO der Serie 7

Niederspannungs-Differenztastköpfe

PCIe Receiver test automation software measuring jitter tolerance for PCIe Gen 6.0 BASE compliance test.

Compute Express Link (CXL)

Rechenzentrumsarchitekturen müssen zunehmend auf Datenverschiebungs- und Zugriffsanforderungen reagieren und gleichzeitig den Stromverbrauch minimieren, die Effizienz steigern und größere und vielfältigere Anwendungen unterstützen. Aufbauend auf der Stärke der physischen PCIe-Schicht erfüllt CXL diese Anforderungen und ermöglicht Prozessoren, effizient auf dieselben Speicherressourcen zuzugreifen, miteinander zu kommunizieren und auf einer einzigen Architektur zu laufen. Physische Schichtlösungen von Tektronix unterstützen die schnellste CXL-Datenrate (32 GT/s) und verschiedene Formfaktoren, die von dieser neuen Technologie erwartet werden.

Oszilloskop DPO der Serie 7

DPO70000SX ATI-Hochleistungsoszilloskope

Mixed-Signal-/Digital-Phosphor-Oszilloskope MSO/DPO70000DX

Niederspannungsdifferentialtastköpfe

Compute Express Link (CXL) Application

Resources

Webinar

PCIe Gen 6 PAM4 Signaling

Prepare for the next PCI Express inflection point by viewing this discussion of validation requirements for PCI Express …
Technisches Informationsblatt

PCIe Gen 5 Tx Tech Brief

Background With the expected dramatic rise in the number of internetconnected devices and associated …
White Paper

PCI Express Gen5 Automated Multi-Lane Testing

Introduction Comprehensive characterization of high-speed links such as PCI Express® require performing …
White Paper

How the Doubling of Interconnect Bandwidth with PCI Express® 6.0 Impacts IP Electrical …

Introduction As a result of the innovations taking place in CPUs, GPUs, accelerators, and switches, the interface in …
Webinar

PCIe 6.0 Panel Discussion: Designing for the Future with 64 GT/s and Beyond

Learn about the latest best practices for PCI Express 6.0 electrical design and validation. Hear experts from Tektronix …
White Paper

PCIe Lane-to-Lane Skew White Paper

Introduction The PCI Express® (PCIe®) serial communication standard supports up to 16 lanes of full …