新しいソフトウェアは、エンジニアが128 GT/sの信号問題を早期に特定し、AIやハイパフォーマンス・コンピューティング・システムで必要とされる広帯域接続を検証するのに役立ちます。
オレゴン州ビーバートン — テクトロニクスは本日、128 GT/sで動作するPCI Express®（PCIe®）7.0 Base設計向けの新しい自動トランスミッタ／レシーバ・テスト・ソフトウェアを発表しました。新しいTekExpress™ PCIe 7.0トランスミッタ・テスト・アプリケーションと、Tektronixのレシーバ・テスト・ソフトウェアであるTekRxTestの拡張されたPCIe 7.0機能により、エンジニアはトランスミッタ測定の自動化、高精度なストレス・レシーバ信号の校正、およびPCIe 7.0 Base仕様要件に対する設計の検証が可能になります。
テクトロニクスは、PAMJETトランスミッタ解析ソフトウェアを拡張し、高度なPCIe 7.0機能に対応しました。このソフトウェアは、標準的な測定だけでは説明できないノイズ、ジッタ、その他の複雑なシグナル・インテグリティ問題の原因をエンジニアが特定するのに役立ちます。
AIシステムが拡張されるにつれ、プロセッサ、アクセラレータ、メモリ、ストレージ、ネットワーク間でデータを効率的に移動させることが、計算能力の追加と同様に重要になっています。PCIeはこれらのコンポーネント間に高周波数帯域の接続を提供するため、その継続的な進化は、AI、機械学習、高性能コンピューティング、およびデータセンター・システムにとって不可欠です。
PCIe 7.0は、PCIe 6.0のデータ・レートを2倍の128 GT/sに引き上げ、16レーンで最大512 GB/sの双方向帯域幅をサポートします。それらのゲインにより、電気的な誤差の許容範囲は大幅に狭まります。128 GT/sでは、チャンネル損失、クロストーク、電源供給ノイズ、ジッタの分離がより困難になり、測定システムの影響がデバイスの真の性能を隠してしまう可能性があります。
半導体およびシステム開発者にとって、これらの課題はファースト・シリコンの立ち上げを遅らせ、エンジニアリング・チーム間の相関を複雑にし、開発の後半段階まで問題が隠れたままになる可能性があります。エンジニアには、トランスミッタの動作を評価し、正確なレシーバ・テスト条件を作成し、測定の失敗からその根本原因へ迅速に移行するための再現性のある手法が必要です。
テクトロニクスのシグナル・アクイジション／解析ポートフォリオ担当バイス・プレジデント兼ゼネラル・マネージャであるDaryl Ellisは、次のように述べています。「PCIe 7.0設計を開発するお客様は、測定結果がテスト環境ではなくデバイスを反映しているという確信を必要としています。」「当社は、精密な測定、ガイド付きソフトウェア、直接的なアプリケーションの専門知識を組み合わせることで、お客様がより早期に問題を解決し、PCIe 7.0設計を前進させる支援をします。」
128GT/sで問題を早期に発見
新しい機能は、PCIe 7.0の電気検証における3つの重要な段階に対応します。TekExpress、TekRxTest、PAMJETを70GHzのDPO70000SXシリーズATIパフォーマンス・オシロスコープおよびアンリツのMP1900A Signal Quality Analyzer-Rと組み合わせることで、エンジニアリング・チームは、トランスミッタ測定、レシーバのストレス機器校正と検証、および根本原因のPAM4解析のための統合されたPCIe 7.0 Baseテスト・ソリューションを利用できます。
- トランスミッタ・テストの自動化： TekExpress PCIe 7.0トランスミッタ・テスト・アプリケーションは、PCIe 7.0 Base仕様で定義されたトランスミッタ測定（信号対ノイズ／歪み比、レベル不整合比、ジッタ、トランスミッタ・プリセット・イコライゼーションなど）のセットアップ、波形取り込み、解析、レポート作成を自動化します。エンジニアは、システム統合の前に、ファースト・シリコンの評価、プリセットや設計リビジョンの比較、および電気的な問題の特定を行うことができます。
- レシーバの機器校正と検証を簡素化： TekRxTestは、TektronixのオシロスコープとアンリツのMP1900Aを1つのガイド付きワークフローで制御し、TP3およびTP2のストレス・アイ機器校正、プリセットおよび連続時間線形イコライゼーション（CTLE）の最適化、チャンネル検証を行います。MP1900Aは、PCIe 7.0レシーバの機器校正と検証に必要なストレス信号を提供します。自動化されたオシロスコープのノイズ補正機能は、正確な正弦波ジッタおよびランダム・ジッタの機器校正をサポートし、エンジニアリング組織がチームやテスト環境全体で再現性のあるテスト条件を作成できるよう支援します。
- 障害から根本原因の特定へ： 拡張されたPAMJET機能により、ノイズを考慮した測定、クロック・リカバリ、相関／合成アイ・ビュー、個々のPAM4遷移の解析、およびシンボル・エラー・イベントへの直接ナビゲーションが可能になります。これらの機能は、エンジニアがデバイスの動作をチャンネルや測定システムの影響と区別し、平均化や集計された測定では隠れてしまうような問題を明らかにするのに役立ちます。
これらの機能を組み合わせることで、エンジニアはPCIe 7.0 Baseの電気的要件に基づいてチップレベルの設計を検証でき、将来のCEM実装およびコンプライアンス・テストの基盤を築くことができます。TekExpressおよびTekRxTestは、以前のPCIe世代のワークフローもサポートしており、エンジニアリング・チームが後方互換性を検証し、PCIe 7.0へ移行する際にも使い慣れたテスト・プロセスを維持できるよう支援します。
進化するPCIeへの信頼
顧客はPCIeの各世代を採用する際、要件、テスト手法、業界の経験がまだ進化している中で、重要な設計上の決定を下さなければなりません。PCIeの長年にわたる世代交代において、TektronixのエンジニアはPCI-SIGのワーキング・グループやパスファインディング活動に積極的に参加し、その知識を、顧客が導入前に設計を評価するために使用するソフトウェア、測定手法、技術ガイダンスに適用してきました。
テクトロニクスは、PCIe 5.0およびPCIe 6.0のGold Suite認定テスト・ベンダとしてPCI-SIGコンプライアンス・ワークショップもサポートしており、エンジニアによるデバイスの相互運用性の評価と早期の問題解決を支援しています。
利用可否
TekExpress PCIe 7.0トランスミッタ・テスト・アプリケーションおよびTekRxTestの拡張されたPCIe 7.0機能は、現在提供中です。PAMJETトランスミッタ解析ソフトウェアは別売りであり、互換性のあるテクトロニクスの高性能オシロスコープ向けに現在提供中です。
TektronixのPCIeテスト・ソリューションの詳細については、tek.com/pciexpressをご覧ください。
テクトロニクスについて
テクトロニクスは、80年にわたりエンジニアから信頼され、測定、発見、技術革新を支えてきたパートナーです。当社は、精密さとシンプルさを融合させたテスト／計測ソリューションを提供し、エンジニアがより良い明日を築くための技術革新を加速できるよう支援しています。詳細はtek.com/newsroomをご覧ください。
Tektronixは、テクトロニクスの登録商標です。記載されているその他のすべての商品名は、各社のサービス・マーク、商標、または登録商標です。
出典：テクトロニクス
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