新軟體協助工程師更早隔離 128 GT/s 訊號問題,並驗證 AI 與高效能運算系統所需的高頻寬連接
俄勒岡州比弗頓——Tektronix 今日推出適用於 128 GT/s 運作速率之 PCI Express® (PCIe®) 7.0 Base 設計的全新自動化發射器與接收器測試軟體。全新的 TekExpress™ PCIe 7.0 發射器測試應用程式,以及 Tektronix 接收器測試軟體 TekRxTest 中擴充的 PCIe 7.0 功能,可協助工程師自動化發射器測量、精確校準壓力接收器訊號,並根據 PCIe 7.0 Base 規範要求驗證設計。
Tektronix 也擴充了其 PAMJET 發射器分析軟體,新增了先進的 PCIe 7.0 功能。此軟體協助工程師識別雜訊、抖動及其他標準測量方式可能無法解釋的複雜訊號完整性問題。

隨著 AI 系統規模擴大,在處理器、加速器、記憶體、儲存體與網路之間有效率地移動資料,變得與增加運算能力同樣重要。PCIe 在這些元件之間提供高頻寬連接,使其持續進步對於 AI、機器學習、高效能運算及資料中心系統至關重要。
PCIe 7.0 將 PCIe 6.0 的資料速率提高了一倍,達到 128 GT/s,並支援透過 16 個通道提供高達 512 GB/s 的雙向頻寬。這些增益大幅減少了電子錯誤的容許空間。在 128 GT/s 下,通道損耗、串音、電源傳輸雜訊與抖動變得更難以隔離,而量測系統效應可能會掩蓋裝置的真實效能。
對於半導體與系統開發人員而言,這些挑戰可能會拖慢首批晶片(first-silicon) 的啟動與驗證進度,使跨工程團隊的關聯分析變得複雜,並導致問題隱藏到開發後期才被發現。工程師需要可重複的方法來評估發射器行為、建立精確的接收器測試條件,並能迅速從失敗的量測結果找出根本原因。
「開發 PCIe 7.0 設計的客戶需要確信其量測結果反映的是裝置本身,而非測試環境,」Tektronix 訊號擷取與分析產品組合副總裁兼總經理 Daryl Ellis 表示。「我們結合精確測量、導引式軟體與直接應用專業知識,協助他們更早解決問題,並推動 PCIe 7.0 設計向前邁進。」
在 128 GT/s 下更早發現問題
這些新功能涵蓋了 PCIe 7.0 電子驗證的三個關鍵階段。透過將 TekExpress、TekRxTest 和 PAMJET 與 70 GHz DPO70000SX ATI 效能示波器及 Anritsu MP1900A 訊號品質分析儀 (Signal Quality Analyzer-R) 結合,工程團隊可獲得一套協調的 PCIe 7.0 Base 測試解決方案,用於發射器量測、接收器壓力校準與驗證,以及 PAM4 根本原因分析。
- 自動化發射器測試:TekExpress PCIe 7.0 發射器測試應用程式可針對 PCIe 7.0 Base 規格中定義的發射器量測,自動執行設定、波形擷取、分析與報告,包括訊號雜訊失真比 (SNDR)、位準失配比、抖動及發射器預設等化。工程師可以在系統整合前評估第一批晶片、比較預設值與設計修訂版本,並識別電氣問題。
- 簡化接收器校準與驗證:TekRxTest 透過單一引導式工作流程控制 Tektronix 示波器與 Anritsu MP1900A,以進行 TP3 和 TP2 壓力眼圖校準、預設與連續時間線性等化 (CTLE) 最佳化,以及通道驗證。MP1900A 可提供 PCIe 7.0 接收器校準與驗證所需的壓力訊號。自動化示波器雜訊補償支援精確的正弦抖動與隨機抖動校準,協助工程組織在不同團隊與測試環境中建立可重複的測試條件。
- 從故障排除邁向根本原因分析:擴充後的 PAMJET 功能提供雜訊感知量測、時脈還原、關聯與複合眼圖檢視、個別 PAM4 轉換分析,以及直接導覽至符號錯誤事件。這些功能有助於工程師區分裝置行為與通道及量測系統效應,並揭露平均或彙總量測結果可能掩蓋的問題。
這些功能共同協助工程師根據 PCIe 7.0 Base 電氣要求驗證晶片級設計,為未來的 CEM 實作與相容性測試奠定基礎。TekExpress 與 TekRxTest 同時支援早期 PCIe 世代的工作流程,協助工程團隊在驗證向後相容性並邁向 PCIe 7.0 的過程中,保留熟悉的測試程序。
隨 PCIe 演進而來的信心
隨著客戶採用每一代 PCIe,他們必須在需求、測試方法與產業經驗仍在演進的同時,做出關鍵的設計決策。多年來,Tektronix 工程師積極參與 PCIe 的 PCI-SIG 工作小組與前瞻性研究,並將這些知識應用於客戶在部署前評估設計時所使用的軟體、量測方法與技術指導。
Tektronix 同時以 PCIe 5.0 和 PCIe 6.0 之 Gold Suite 認可測試供應商的身分,支援 PCI-SIG 合規研討會,協助工程師評估裝置互通性並及早解決問題。
可用性
TekExpress PCIe 7.0 發射器測試應用程式以及 TekRxTest 中擴充的 PCIe 7.0 功能現已推出。PAMJET 發射器分析軟體需另行購買,現已適用於相容的 Tektronix 高效能示波器。
若要深入了解 Tektronix PCIe 測試解決方案,請前往 tek.com/pciexpress。
關於 Tektronix
80 年來,Tektronix 一直是工程師信賴的合作夥伴,協助他們進行量測、探索與創新。今日,我們提供結合精確度與簡易性的測試與量測解決方案,協助工程師加速實現突破,形塑更美好的明天。欲知詳情,請造訪 tek.com/newsroom。
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