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可靈活設定特性分析應用的程式設計偏好
ACS 具有指令檔編輯器，這是一個獨立的工具，具有圖形使用者介面，可供開發 Python 程式碼與 TSP® 指令檔，以執行儀器控制、資料分析及系統自動化。其能讓使用者以直覺的方式建立與開發 GUI 設計，及管理使用者資料庫與模組。
自動進行資料收集程序
ACS 的晶片探棒自動化選項，能夠將各種常用的半自動或全自動化晶片探測站，輕鬆地接合到測試設定，以快速擷取大量資料。此選項包括晶片說明公用程式、具備分割分析的即時晶片映射、卡位取樣方案規劃公用程式，以及測試後卡位與晶片審查公用程式。許多內建在 ACS 的工具與功能，可增強自動裝置的特性分析。
分享測試專案與結果
ACS 提供一組可用於各種硬體組態的常用重要元件，能夠縮短時間並提升產能。系統在不同的硬體實作之間轉移時，皆有一致的效能，因此舉例來說，能夠將您對於用於單一裝置元件特性分析的以 ACS 為基礎系統知識，輕鬆地轉移到為晶片位準測試設計的系統。
充分發揮 Keithley 硬體的生產力
ACS 中的工具可簡化測試開發，並加快每個連結至此系統的 Keithley 儀器速度。ACS 與 Keithley 以 TSP 為基礎的硬體搭配在一起時，能夠提供業界最高的輸送量，因此可降低成本，而且無須花時間學習新的程式設計概念或語言，就能取得達成目標所需的資料。
支援的儀器
| 儀器類型 | 機型 | ACS 版 |
|---|---|---|
| SMU 儀器 | 2600B系列： 2601B、2602B、2604B、2611B、2612B、2614B、2634B、2635B、2636B 2600A 系列： 2601A、2602A、2611A、2612A、2635A、2636A 2400 圖形觸控式螢幕系列： 2450、2460、2460-NFP、2460-NFP-RACK、2460-RACK、2461、2461-SYS、2470 2400 標準系列： 2401、2410、2420、2430、2440 2606B 高密度： 2606B 2650 大功率系列： 2651A、2657A |
ACS 基本 ACS 標準 |
| 參數分析儀 | 4200A | ACS 基本 ACS 標準 |
| DMM | DMM7510、2010 系列 | ACS 基本 ACS 標準 |
| 切換矩陣 | HVM1212A | ACS 基本 ACS 標準 |
| 切換系統 | 707A/B、708A/B、3700A | ACS 基本 ACS 標準 |
| 脈衝產生器 | 3400 系列 | ACS 基本 ACS 標準 |
| 探棒 | TEL P8/P12, TEL T78S/80S, ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90, MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000, FormFactor (Cascade) Summit 12000, FormFactor (Cascade) S300, Suss MicroTec PA200/Cascade CM300, Electroglas EG2X/EG4X, Wentworth Pegasus 300S, Signatone CM500, Yang Sagi3, Micromanipulator P300A | ACS 標準 |
附註：
- ITM 支援 24xx TTI 儀器、26xx 儀器和混合使用案例。
- 使用者可以透過 STM 指令碼控制任何 TSP 儀器。現有的 ACS STM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
- 使用者可透過 PTM 指令碼控制任何儀器。現有的 ACS PTM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
ACS Basic Edition Key Features
US $400
3 Month Subscription
US $1,290
12 Month Subscription
US $3,270
Perpetual
- Designed for packaged devices (MOSFETs, BJTs, IGBTs, diodes, resistors, etc.)
- Rich set of test libraries for fast and easy test setup and execution without programming
- Built-in data analysis tools for quick analysis of parametric data
- Simplified instrument configuration using the automated hardware management tool
Select license option to continue
ACS Standard Edition Key Features
US $7,920
12 Month Subscription
US $20,200
Perpetual
- Supports the following test modules: GUI, Lua Script, Python and C
- Supports a wide array of instruments and probers to accommodate a broad range of applications
- Intuitive GUI simplifies I-V tests, analysis, and results from benchtop to fully automated parametric testers to enhance user experience
- Develop and execute tests at the device, sub-site, site, wafer, and cassette level for increased test capability
Select license option to continue
ACS WLR Edition Key Features
US $12,700
12 Month Subscription
US $32,200
Perpetual
- System configurations from 2 to 44 channels
- Comprehensive JEDEC-compliant test suite
- Optimized for both emerging and mature technologies
- Supports both sequential and parallel testing
- Fully automatic single-site and multi-site capability
- Compatible with all popular wafer probe stations
- Real-time plotting and wafer mapping
Select license option to continue
從實驗室到晶圓廠的應用
以 ACS 為基礎的「整合測試系統」是完整的解決方案，適用於如參數晶粒分類、高功率半導體元件特性分析，及晶片位準可靠度測試等應用。當與合適的半自動與全自動探測站搭配時，其硬體組態與測試專案開發能夠針對特定的任務最佳化。
GaN HEMT I-V 特性分析的供電排序
GaN HEMT 具有「通常開啟」的特性，因此在 I-V 特性分析期間需要特定的供電順序。ACS 軟體支援裝置 GaN HEMT 特性分析的供電順序，擷取其固有的 I-V 特性時不會傷害裝置。
應用在整個半導體工作流程
ACS Basic Edition 與 ACS Standard Edition 軟體皆用於整個半導體工作流程中，以執行半導體裝置詳細特性分析的各種測試。ACS Basic 與 ACS Standard 整合式系統提供：
- 裝置、晶片與卡式位準的測試
- 彈性的設定方式，以及可自訂的軟體與應用程式
- 互動式且自動化的系統操作
- GUI 與指令檔工具的強大組合可供開發測試模組之用
開發階段
ACS Basic Edition 軟體已針對元件和離散 (封裝) 半導體裝置的參數測試最佳化。此軟體具有以下重要功能，能夠提高研發技術人員與工程師的生產力：
- 針對封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 設計
- 提供一組豐富的測試庫，可快速輕鬆地測試設定與執行，無須程式設計
- 內建的資料分析工具，可快速分析參數資料
- 支援 Keithley 的 2600B 系列 (非 2604B、2614B 或 2634B)、2400 系列、2651A 及 2657A 系列 SourceMeter SMU 儀器
整合階段
ACS Standard Edition 軟體用於半自動晶片測試的整合階段，包括穩健的程序開發與晶片位準可靠度 (WLR)。此軟體可用於 SMU 每個接腳系統位準測試。ACS WLR 軟體具有以下優點：
- 全自動功能，可測試個別的晶片或整個卡位
- 可彈性設定測試與進行平行測試的軟體
- 可靠度測試模組 (RTM) 與 JEDEC 標準測試方法相容
- 支援建立自訂的測試模組/程序
生產階段
ACS Standard Edition 軟體也用於完全整合及自動化的以機架為基礎的自訂測試系統，以用於製程控制監控 (PCM)、晶片驗收測試 (WAT) 及晶粒分類。許多內建在 ACS Standard 軟體的工具與功能可增強 自動裝置的特性分析：
- 晶片位準與卡式位準自動化
- 測試映射對映射裝置及對站點和子站點的測試
- 互動式探測站控制模式
- 單一或各個晶片 Keithley 資料檔案