與我們聯絡
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)
請致電
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)
下載
下載手冊、產品規格表、軟體等等:
意見回饋
可靈活設定特性分析應用的程式設計偏好
ACS 具有指令檔編輯器,這是一個獨立的工具,具有圖形使用者介面,可供開發 Python 程式碼與 TSP® 指令檔,以執行儀器控制、資料分析及系統自動化。其能讓使用者以直覺的方式建立與開發 GUI 設計,及管理使用者資料庫與模組。
自動進行資料收集程序
ACS 的晶片探棒自動化選項,能夠將各種常用的半自動或全自動化晶片探測站,輕鬆地接合到測試設定,以快速擷取大量資料。此選項包括晶片說明公用程式、具備分割分析的即時晶片映射、卡位取樣方案規劃公用程式,以及測試後卡位與晶片審查公用程式。許多內建在 ACS 的工具與功能,可增強自動裝置的特性分析。
分享測試專案與結果
ACS 提供一組可用於各種硬體組態的常用重要元件,能夠縮短時間並提升產能。系統在不同的硬體實作之間轉移時,皆有一致的效能,因此舉例來說,能夠將您對於用於單一裝置元件特性分析的以 ACS 為基礎系統知識,輕鬆地轉移到為晶片位準測試設計的系統。
充分發揮 Keithley 硬體的生產力
ACS 中的工具可簡化測試開發,並加快每個連結至此系統的 Keithley 儀器速度。ACS 與 Keithley 以 TSP 為基礎的硬體搭配在一起時,能夠提供業界最高的輸送量,因此可降低成本,而且無須花時間學習新的程式設計概念或語言,就能取得達成目標所需的資料。
支援的儀器
儀器類型 | 機型 | ACS 版 |
---|---|---|
敏感 | 6200 系列,2182A | ACS 基本 ACS 標準 |
SMU 儀器 | 2600B系列:2601B、2602B、2604B、2611B、2612B、2614B、2634B、2635B、2636B 2600A 系列:2601A、2602A、2611A、2612A、2635A、2636A 2400 圖形觸控式螢幕系列:2450、2460、2460-NFP、2460-NFP-RACK、2460-RACK、2461、2461-SYS、2470 2400 標準系列:2401、2410、2420、2430、2440 2606B 高密度:2606B 2650 大功率系列:2651A、2657A |
ACS 基本 ACS 標準 |
參數分析儀 | 4200A | ACS 基本 ACS 標準 |
DMM | DMM7510、DMM6500、2010 系列 | ACS 基本 ACS 標準 |
切換系統 | 707A/B、708A/B、3700A | ACS 基本 ACS 標準 |
脈衝產生器 | 3400 系列 | ACS 基本 ACS 標準 |
探棒 | TEL P8/P12、TEL T78S/80S、ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90、MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000、FormFactor (Cascade) Summit 12000、FormFactor (Cascade) S300、Suss MicroTec PA200/Cascade CM300、Electroglas EG2X/EG4X、Wentworth Pegasus 300S、Signatone CM500、Yang Sagi3、Micromanipulator P300A、Vector Semiconductor AX/VX 系列、Apolowave AP200/AP300、MJC AP-80、Semiprobe SPFA 探棒、HiSOL | ACS 標準 |
附註:
- ITM 支援 24xx TTI 儀器、26xx 儀器和混合使用案例。
- 使用者可以透過 STM 指令碼控制任何 TSP 儀器。現有的 ACS STM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
- 使用者可透過 PTM 指令碼控制任何儀器。現有的 ACS PTM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
軟體
維護授權ACS 基本版主要功能
US $437
3 個月訂閱
US $1,410
12 個月訂閱
US $3,570
終身
- 專為封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 所設計
- 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
- 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
- 使用自動化硬體管理工具簡化儀器配置
ACS 標準版主要功能
US $8,660
12 個月訂閱
終身
- 支援以下測試模組:GUI、Lua Script、Python 和 C
- 支援多種儀器和探棒,以適應各種應用
- 直覺式 GUI 簡化了從桌上型到全自動參數測試儀的 I-V 測試、分析和結果,以增强使用者體驗
- 在裝置、子網站、網站、晶片和卡式位準中開發及執行測試,以提高測試能力
ACS WLR 版主要功能
US $13,900
12 個月訂閱
終身
- 2 至 44 通道的系統配置
- 完整的 JEDEC 相容測試套件
- 針對新興和成熟科技進行最佳化
- 支援依序和並行測試
- 全自動單網站和多網站功能
- 與所有熱門的晶片探測站相容
- 即時繪圖和晶片映射
從實驗室到晶圓廠的應用
以 ACS 為基礎的「整合測試系統」是完整的解決方案,適用於如參數晶粒分類、高功率半導體元件特性分析,及晶片位準可靠度測試等應用。當與合適的半自動與全自動探測站搭配時,其硬體組態與測試專案開發能夠針對特定的任務最佳化。
使用差值模式量測超低電阻
2182A/622X 組合非常適合多種奈米技術應用,因為它無需損耗待測試中裝置 (DUT) 的大量功率就可以量測電阻,而其他方式可能會產生無效結果,甚至破壞 DUT。利用 ACE 軟體執行差值模式測試,將這些靈敏度量測納入測試系統。
GaN HEMT I-V 特性分析的供電排序
GaN HEMT 具有「通常開啟」的特性,因此在 I-V 特性分析期間需要特定的供電順序。ACS 軟體支援裝置 GaN HEMT 特性分析的供電順序,擷取其固有的 I-V 特性時不會傷害裝置。
應用在整個半導體工作流程
ACS Basic Edition 與 ACS Standard Edition 軟體皆用於整個半導體工作流程中,以執行半導體裝置詳細特性分析的各種測試。ACS Basic 與 ACS Standard 整合式系統提供:
- 裝置、晶片與卡式位準的測試
- 彈性的設定方式,以及可自訂的軟體與應用程式
- 互動式且自動化的系統操作
- GUI 與指令檔工具的強大組合可供開發測試模組之用
開發階段
ACS Basic Edition 軟體已針對元件和離散 (封裝) 半導體裝置的參數測試最佳化。此軟體具有以下重要功能,能夠提高研發技術人員與工程師的生產力:
- 針對封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 設計
- 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
- 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
- 支援 Keithley 的 2600B 系列、2400 系列、2651A 和 2657A 系統 SourceMeter SMU 儀器
整合階段
ACS Standard Edition 軟體用於半自動晶片測試的整合階段,包括穩健的程序開發與晶片位準可靠度 (WLR)。此軟體可用於 SMU 每個接腳系統位準測試。ACS WLR 軟體具有以下優點:
- 全自動功能,可測試個別的晶片或整個卡位
- 可彈性設定測試與進行平行測試的軟體
- 可靠度測試模組 (RTM) 與 JEDEC 標準測試方法相容
- 支援建立自訂的測試模組/程序
生產階段
ACS Standard Edition 軟體也用於完全整合及自動化的以機架為基礎的自訂測試系統,以用於製程控制監控 (PCM)、晶片驗收測試 (WAT) 及晶粒分類。許多內建在 ACS Standard 軟體的工具與功能可增強 自動裝置的特性分析:
- 晶片位準與卡式位準自動化
- 測試映射對映射裝置及對站點和子站點的測試
- 互動式探測站控制模式
- 單一或各個晶片 Keithley 資料檔案 (KDF) 和/或 CSV 檔案