Neue Software unterstützt Entwicklungsteams dabei, Signalprobleme bei 128 GT/s frühzeitig einzugrenzen und die für KI- und Hochleistungscomputersysteme erforderlichen Verbindungen mit hoher Bandbreite zu validieren
BEAVERTON, Oregon, 2. September 2026 —Tektronix hat heute eine neue automatisierte Sender- und Empfängertestsoftware für PCI Express® (PCIe®) 7.0 Base Designs mit 128 GT/s vorgestellt. Die neue TekExpress™ PCIe 7.0 Transmitter Test Application und die erweiterten PCIe-7.0-Funktionen in TekRxTest, der Empfängertestsoftware von Tektronix, unterstützen Entwicklungsteams bei der Automatisierung von Sendermessungen, der präzisen Kalibrierung gezielt gestörter Empfängersignale und der Validierung von Designs anhand der Anforderungen der PCIe 7.0 Base Specification.
Tektronix hat außerdem seine PAMJET Transmitter Analysis Software um erweiterte PCIe-7.0-Funktionen ergänzt. Die Software unterstützt Entwicklungsteams dabei, die Ursachen von Rauschen, Jitter und anderen komplexen Signalintegritätsproblemen zu identifizieren, die sich durch Standardmessungen allein möglicherweise nicht erklären lassen.

Mit der Skalierung von KI-Systemen wird die effiziente Datenübertragung zwischen Prozessoren, Beschleunigern, Arbeitsspeicher, Massenspeicher und Netzwerken ebenso wichtig wie der Ausbau der Rechenkapazität. PCIe stellt die Verbindungen mit hoher Bandbreite zwischen diesen Komponenten bereit. Seine kontinuierliche Weiterentwicklung ist daher für KI, maschinelles Lernen, Hochleistungsrechnen und Rechenzentrumssysteme von entscheidender Bedeutung.
PCIe 7.0 verdoppelt die Datenrate von PCIe 6.0 auf 128 GT/s und unterstützt über 16 Lanes eine bidirektionale Bandbreite von bis zu 512 GB/s. Diese Leistungssteigerung lässt deutlich weniger Spielraum für elektrische Fehler. Bei 128 GT/s sind Kanalverluste, Übersprechen, Rauschen der Stromversorgung und Jitter schwieriger zu isolieren. Gleichzeitig können Einflüsse des Messsystems die tatsächliche Leistungsfähigkeit eines Bauteils verschleiern.
Für Halbleiter- und Systementwickler können diese Herausforderungen die Erstinbetriebnahme neuer Chips verzögern, die Abstimmung und Vergleichbarkeit von Messergebnissen zwischen Entwicklungsteams erschweren und dazu führen, dass Probleme bis in späte Entwicklungsphasen unentdeckt bleiben. Entwicklungsteams benötigen reproduzierbare Verfahren, um das Senderverhalten zu bewerten, präzise Empfängertestbedingungen zu erzeugen und nach einer fehlgeschlagenen Messung schnell zur zugrunde liegenden Ursache zu gelangen.
„Kunden, die PCIe-7.0-Designs entwickeln, müssen darauf vertrauen können, dass ihre Messungen das Verhalten des Bauteils und nicht die Testumgebung widerspiegeln“, betonte Daryl Ellis, Vice President and General Manager of Tektronix’s Signal Acquisition and Analysis Portfolio. „Wir kombinieren präzise Messtechnik, workflowbasierte Software und direkte Anwendungskompetenz, damit unsere Kunden Probleme früher lösen und die Entwicklung ihrer PCIe-7.0-Designs vorantreiben können.“
Probleme bei 128 GT/s früher erkennen
Die neuen Funktionen decken drei entscheidende Phasen der elektrischen PCIe-7.0-Validierung ab. Durch die Kombination von TekExpress, TekRxTest und PAMJET mit dem 70-GHz-Hochleistungsoszilloskop DPO70000SX ATI und dem Anritsu MP1900A Signal Quality Analyzer-R erhalten Entwicklungsteams eine abgestimmte PCIe 7.0 Base Testlösung für Sendermessungen, die Kalibrierung und Validierung von Empfängern mit gezielt gestörten Signalen sowie die Ursachenanalyse von PAM4-Signalen.
- Sendertests automatisieren: Die TekExpress PCIe 7.0 Transmitter Test Application automatisiert Einrichtung, Signalerfassung, Analyse und Berichterstellung für die in der PCIe 7.0 Base Specification definierten Sendermessungen. Dazu gehören das Signal-to-Noise-and-Distortion Ratio (SNDR), das Ratio of Level Mismatch (RLM), Jitter sowie die Sender-Preset-Equalisierung. Entwicklungsteams können erste Chipsamples charakterisieren, Presets und Designrevisionen vergleichen und elektrische Probleme bereits vor der Systemintegration identifizieren.
- Empfängerkalibrierung und -validierung vereinfachen: TekRxTest steuert das Tektronix-Oszilloskop und den Anritsu MP1900A in einem durchgängigen, geführten Workflow für die Stressed-Eye-Kalibrierung an TP3 und TP2, die Optimierung von Presets und CTLE-Einstellungen (Continuous-Time Linear Equalization) sowie die Verifizierung des Übertragungskanals. Der MP1900A erzeugt die für die Kalibrierung und Validierung von PCIe-7.0-Empfängern erforderlichen gezielt gestörten Signale. Die automatisierte Rauschkompensation des Oszilloskops ermöglicht eine präzise Kalibrierung von sinusförmigem und zufälligem Jitter und unterstützt Entwicklungsorganisationen dabei, team- und testumgebungsübergreifend reproduzierbare Testbedingungen zu schaffen.
- Von der Fehlermessung zur Ursache gelangen: Die erweiterten PAMJET-Funktionen bieten Messungen mit Berücksichtigung von Rauscheinflüssen, Taktrückgewinnung, korrelierte und zusammengesetzte Augendiagrammansichten, die Analyse einzelner PAM4-Übergänge sowie die direkte Navigation zu Symbolfehlerereignissen. Diese Funktionen unterstützen Entwicklungsteams dabei, das Verhalten des Bauteils von Kanal- und Messsystemeinflüssen zu unterscheiden und Probleme aufzudecken, die durch gemittelte oder aggregierte Messungen verborgen bleiben können.
Zusammen unterstützen diese Funktionen Entwicklungsteams dabei, Designs auf Chipebene anhand der elektrischen Anforderungen von PCIe 7.0 Base zu validieren und damit die Grundlage für zukünftige CEM-Implementierungen und Konformitätstests zu schaffen. TekExpress und TekRxTest unterstützen auch Workflows für frühere PCIe-Generationen. So können Entwicklungsteams vertraute Testprozesse beibehalten, während sie die Abwärtskompatibilität validieren und den Übergang zu PCIe 7.0 vollziehen.
Vertrauen in die Weiterentwicklung von PCIe
Bei der Einführung jeder neuen PCIe-Generation müssen Kunden wichtige Designentscheidungen treffen, während sich Anforderungen, Testmethoden und Branchenerfahrungen noch weiterentwickeln. Seit vielen PCIe-Generationen wirken Tektronix-Ingenieure aktiv in Arbeitsgruppen der PCI-SIG und an frühzeitigen Technologieevaluierungen mit. Dieses Wissen fließt in die Software, Messmethoden und technische Beratung ein, die Kunden zur Bewertung ihrer Designs vor der Implementierung nutzen.
Tektronix unterstützt außerdem PCI-SIG Compliance Workshops als für PCIe 5.0 und PCIe 6.0 zugelassener Gold-Suite-Testanbieter. Dies hilft Entwicklungsteams, die Interoperabilität von Geräten zu bewerten und Probleme frühzeitig zu beheben.
Verfügbarkeit
Die TekExpress PCIe 7.0 Transmitter Test Application und die erweiterten PCIe-7.0-Funktionen in TekRxTest sind ab sofort verfügbar. Die PAMJET Transmitter Analysis Software ist separat erhältlich und steht ab sofort für kompatible Hochleistungsoszilloskope von Tektronix zur Verfügung.
Weitere Informationen zu den PCIe-Testlösungen von Tektronix finden Sie unter tek.com/pciexpress.
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