吉時利參數測試系統

當今的類比和功率半導體技術 (包括 GaN 和 SiC) 要求進行參數測試，以最大化量測效能、支援廣泛的產品組合，並盡量縮減測試成本。40 多年來，Keithley 已經在關鍵應用中解決了這些難關，以及其他重要挑戰，例如流程整合、流程控制監控，生產晶粒分類 (例如晶片驗收或已知優質晶粒測試)，以及可靠性。

Keithley S530 系列參數測試系統具備 KTE 7 軟體，能提供高速且完全彈性的配置，並可隨著新應用的出現和需求變化而成長。S530 可以承受最高達 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何針腳上進行最高達 1100 V 的測試，從而使傳輸率比競爭解決方案高出 50％。KTE 7 的新增功能是可選的系統測試頭，可以直接對接探棒並重新使用舊版探棒卡，並支援汽車標準 IATF-16949 要求的系統層級 ISO-17025 針腳校驗。同時也支援傳統 S600 和 S400 系統最簡單、最順暢的移轉路徑，具有完整的資料關聯性並能提高速度。

540 參數測試系統是全自動、48 接腳參數測試系統，適用於高達 3kV 功率半導體裝置和結構的晶片位準測試。完全整合式 S540 只需用探棒接觸一次，就能執行所有高壓、低壓和電容測試，最適合最新的複合功率半導體材料，包括碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN)。

S500 整合式測試系統是高度可配置的儀器式系統，適用於裝置、晶片或卡式位準的半導體特性分析。建置在我們可行的儀器上，S500 整合式測試系統提供創新的測試功能和系統靈活度，可調整以符合您的需求。獨特的量測功能，結合了強大且彈性的自動化特性分析套件 (ACS) 軟體，可提供市場上其他同級系統未提供的各式各樣應用和功能。