このアプリケーション・ノートでは、SIMを使用してこれらの技術を適用するための実践的な手順を説明します。アイ・ダイアグラム、ジッタ、およびノイズ解析をすでに理解しているエンジニア向けに書かれており、測定の補正と信号経路の変換に焦点を当てています。続く4つの例のそれぞれが、リファレンス・プレーンの曖昧さ、初期のチャンネル探索、レシーバ・イコライゼーション、DDR反射の除去という特定の測定上の課題に対処し、それらを解決するSIMワークフローを順に説明します。基礎となる理論についてのより深い背景知識を必要とする読者のために、付録にSパラメータの基礎が記載されています。
このアプリケーション・ノート：
- 高速システムにおけるテストの課題の概要を簡単に説明します。
- リファレンス・プレーンを仮想的に移動させ、オシロスコープ上で迅速な「What-if」探索を可能にする補正方法について解説します。
- ディエンベッドによる信号品質の回復、エンベッドによるシステム性能の予測、CTLEイコライゼーションによるレシーバ性能の最適化、ミッドバス・プロービングによるDDR反射の除去という4つの実践的な例を示しています。
- システム・モデリング、ディエンベッド、エンベッド、ならびにCTLE、FFE、およびDFEを含むTxおよびRxイコライゼーションに関連するSパラメータの基礎の説明を含む付録が含まれています。
テクトロニクスのオシロスコープ（オプションのシグナル・インテグリティ・モデリング・ソフトウェア（opt.SIMおよびSIMA）および拡張ジッタ解析（opt.DJAソフトウェアは、詳細な信号解析、設計の検証、および高速デジタルのコンプライアンス・テストのためのオシロスコープ内蔵ソリューションを提供します。テクトロニクスの5および6シリーズ B MSOならびに7シリーズ DPOオシロスコープは、SIM／SIMAおよびDJAソフトウェアをサポートしています。これらおよびその他のテクトロニクスのオシロスコープの詳細については、オシロスコープ選択ガイドをダウンロードしてください。