이 애플리케이션 노트에서는 SIM을 사용하여 이러한 기법을 적용하기 위한 실용적인 단계를 제공합니다. 아이 다이어그램, 지터 및 노이즈 분석에 이미 익숙한 엔지니어를 위해 작성되었으며, 측정 보정 및 신호 경로 변환에 중점을 둡니다. 이어지는 4가지 예제 각각은 기준면 모호성, 조기 채널 탐색, 수신기 이퀄라이제이션, DDR 반사 제거라는 특정 측정 과제를 다루며, 이를 해결하는 SIM 워크숍 과정을 안내합니다. 기본 이론에 대한 더 깊은 배경 지식을 원하는 독자를 위해 부록에서 S 파라미터 기초를 제공합니다.
본 애플리케이션 노트:
- 고속 시스템의 테스트 과제에 대한 간략한 개요를 제공합니다.
- 기준면을 가상으로 이동시키고 오실로스코프에서 직접 빠른 "what-if" 탐색을 가능하게 하는 보정 방법을 다룹니다.
- 디임베딩을 통한 신호 무결성 복구, 임베딩을 통한 시스템 성능 예측, CTLE 이퀄라이제이션을 통한 수신기 성능 최적화, 그리고 미드버스 프로빙을 이용한 DDR 반사 제거의 네 가지 실제 예제를 보여 줍니다.
- 시스템 모델링, 디임베딩, 임베딩, 그리고 CTLE, FFE, DFE를 포함한 Tx 및 Rx 이퀄라이제이션과 관련하여 S 파라미터 기초에 대한 설명이 포함된 부록을 제공합니다.
Tektronix 오실로스코프 및 옵션 신호 무결성 모델링 소프트웨어 (옵션 SIM 및 SIMA) 및 고급 지터 분석 (옵션 DJA) 소프트웨어는 상세한 신호 분석, 설계 검증 및 고속 디지털 컴플라이언스 테스트를 위한 오실로스코프 내장 솔루션을 제공합니다. Tektronix 5 및 6 시리즈 B MSO와 7 시리즈 DPO 오실로스코프는 SIM/SIMA 및 DJA 소프트웨어를 지원합니다. 이러한 텍트로닉스 오실로스코프 및 기타 제품에 대한 자세한 내용은 오실로스코프 선택 가이드를 다운로드하여 확인하십시오.