Dieser Anwendungshinweis bietet praktische Schritte zur Anwendung dieser Techniken mithilfe von SIM. Geschrieben für Ingenieure, die bereits mit Augendiagrammen, Jitter und Rauschanalyse vertraut sind, konzentriert es sich auf Messkompensation und Signalpfadtransformation. Jedes der folgenden vier Beispiele befasst sich mit einer spezifischen Messaufgabe – Unklarheit der Referenzebene, frühzeitige Kanalerkundung, Empfängerentzerrung und Beseitigung von DDR-Reflexionen – und führt durch den SIM-Arbeitsablauf, der diese löst. Ein Anhang bietet S-Parameter-Grundlagen für Leser, die sich einen tieferen Hintergrund zur zugrunde liegenden Theorie wünschen.
Dieser Anwendungshinweis:
- Gibt einen kurzen Überblick über die Testherausforderungen in Hochgeschwindigkeitssystemen.
- Behandelt Kompensationsmethoden, die die Referenzebene virtuell verschieben und eine schnelle „Was-wäre-wenn“-Analyse direkt auf einem Oszilloskop ermöglichen.
- Demonstriert vier praktische Beispiele: Wiederherstellung der Signalintegrität durch De-Embedding, Vorhersage der Systemleistung durch Embedding, Optimierung der Empfängerleistung durch CTLE-Entzerrung und Beseitigung von DDR-Reflexionen mithilfe von Mid-Bus-Probing.
- Enthält einen Anhang mit einer Erläuterung der S-Parameter-Grundlagen in Bezug auf Systemmodellierung, De-Embedding, Embedding sowie Tx- und Rx-Entzerrung einschließlich CTLE, FFE und DFE.
Tektronix-Oszilloskope mit der optionalen Software zur Signalintegritätsmodellierung (opt. SIM und SIMA) sowie der erweiterten Jitteranalyse (opt. DJA-Software) bieten eine Oszilloskoplösung für detaillierte Signalanalysen, Design-Validierung und digitale Hochgeschwindigkeits-Konformitätsprüfungen. Die Oszilloskope MSO der Serie 5 und 6 B sowie DPO der Serie 7 von Tektronix unterstützen SIM-/SIMA- und DJA-Software. Weitere Informationen zu diesen und anderen Tektronix-Oszilloskopen finden Sie im Leitfaden zur Oszilloskop-Auswahl.