Current Language
×
Russian (Russia)

Выберите язык:

Включить меню
Current Language
×
Russian (Russia)

Выберите язык:

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Обратная связь

Measurement of Input and Output Die Capacitance for M-LVDS and Other Signal Standards


This application note explains how you can use this technique to measure your Cin and Cout for M-LVDS, PCI Express, Infiniband, Rapid IO, HyperTransport, Gigabit Ethernet and other standards.