半導体のダブル・パルス・テスト

SiCやGaNなどの高効率パワーデバイスのパラメータ測定は非常に時間のかかる作業です。Tektronixのダブル・パルスのソリューションは、簡単なダブル・パルスの設定出力、半自動のパラメータ測定により効率的なテストを可能にします。