SiCやGaNなどの高効率パワーデバイスのパラメータ測定は非常に時間のかかる作業です。Tektronixのダブル・パルスのソリューションは、簡単なダブル・パルスの設定出力、半自動のパラメータ測定により効率的なテストを可能にします。
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半導体のダブル・パルス・テスト
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SiCやGaNなどの高効率パワーデバイスのパラメータ測定は非常に時間のかかる作業です。Tektronixのダブル・パルスのソリューションは、簡単なダブル・パルスの設定出力、半自動のパラメータ測定により効率的なテストを可能にします。
