ダブル・パルス・テストによるエネルギー損失測定

パワー半導体のスイッチング性能測定ではダブル・パルス・テストがしばしば用いられます。このテストは現在ではGaNやSiC MOSFETでも広く使用されます。このビデオでは、テクトロニクス社のオシロスコープとダブル・パルス・テスト・ソフトウエアを使用して、正確で再現性の高いエネルギー損失（EON／EOFF）測定を行う方法について説明します。