低電圧測定は高い伝導性を示す半導体材料やデバイスの抵抗測定でし
ばしば関係します。これらの試験は、通常既知の電流を印加して発生す
る電圧降下を測定し、オームの法則から抵抗を算出します。試料自身が
低抵抗であることから、発生する電圧は非常に小さく、普段もっと大き
な信号を測定する時には無視できたオフセット電圧やノイズを減らすこ
とに苦心しなければなりません。
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