Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
Параметрический анализатор Keithley 4200A-SCS
Анализатор 4200A-SCS позволяет ускорить разработку процессов производства, исследования, а также анализ надёжности и отказов полупроводниковых приборов и материалов. Этот параметрический анализатор демонстрирует непревзойдённую производительность, одновременно выполняя измерения ВАХ (I-V), вольт-фарадных характеристик и сверхбыстрые измерения импульсных ВАХ.
Опробуйте БЕСПЛАТНО на своём ПК.
ВАХ пост. тока (I-V)
10 аА — 1 А
0,2 мкВ — 210 В
ВФХ (C-V)
1 кГц — 10 МГц
±30 В пост. тока смещение
импульсной ВАХ
±40 В (80 В размах), ±800 мА
200 Мвыб/с, период выборки 5 нс
Параметрический анализ, быстрый и понятный.
В настоящее время путь к внедрению новейших разработок максимально упрощён. Параметрический анализатор 4200A-SCS вдвое сокращает время от настройки до начала тестирования характеристик, предоставляя проверенные и понятные инструменты для измерений и анализа. К этому добавляется накопленный годами опыт измерений — в прибор встроено руководство по тестированию, обеспечивающее надёжность получаемых результатов.
Основные преимущества
- Оборудование для расширенных измерений ВАХ при постоянном токе, ВФХ и импульсных ВАХ
- Исключение затрат времени на подготовку к тестированию за счёт сотен включённых в ПО Clarius тестов, которые адаптируются под требования пользователя
- Автоматическое определение параметров в режиме реального времени, графики данных, аналитические функции
Точные измерения ВФХ
Ёмкости фарадного диапазона можно измерять при помощи новейшего модуля Keithley 4215-CVU, предназначенного для определения ВФХ. За счёт интеграции источника напряжения 1 В переменного тока в лучший в отрасли модуль для измерений ВФХ, прибор 4215-CVU Keithley может измерять ёмкости на частотах от 1 кГц до 10 МГц с минимальным уровнем шумов.
Основные преимущества
- Лучший в своём классе приборов модуль для измерений ВФХ с источником напряжения 1 В переменного тока
- Разрешение по частоте 1 кГц в диапазоне от 1 кГц до 10 Мгц
- Измерения ёмкостей, полной и комплексной проводимости
- Возможность использования до четырёх каналов для измерений при подключении коммутатора 4200A-CVIV Multiswitch
Измерения фемтофарадных (1e-15Ф) ёмкостей при помощи модуля 4215-CVU
Измерение. Переключение. И возврат.
Модуль Multi-Switch анализатора 4200A-CVIV автоматически переключает измерения I-V на C-V без переключения измерительных проводов или замены наконечников пробников. В отличие от аналогичных приборов, выпускаемых конкурентами, на дисплей четырёхканального прибора 4200A-CVIV выводится визуальная информация, помогающая быстро настроить тестирование и легко найти неполадки при появлении неожидаемых результатов.
Основные преимущества
- Переход на измерения C-V на любом выводе прибора без переключения измерительных проводов
- Адаптируемая под требования пользователя функция измерения низких токов
- Переименование выходных каналов
- Просмотр статуса тестирования в режиме реального времени
Стабильные измерения малых токов для определения ВАХ
Модули 4201-SMU и 4211-SMU помогают добиться высокой точности и повторяемости измерений малых токов в системе с большими ёмкостями. Выбирая требуемый модуль из четырёх разных моделей источников-измерителей (SMU), можно настроить анализатор 4200A-SCS под любые требования заказчиков к измерениям ВАХ. Кроме того, предлагая SMU с установкой в полевых условиях и дополнительные модули предусилителей, компания Keithley обеспечивает самую высокую точность измерений малых токов при незначительном простое либо вообще без простоев оборудования.
Основные преимущества
- Добавление модуля SMU без пересылки прибора изготовителю
- Измерения фемтоамперных токов
- До 9 каналов SMU
- Модули оптимизированы для работы с длинными кабелями или большими держателями испытуемых устройств
Комплексное решение с применением испытательных устройств и контроллеров, работающих при криогенных температурах
Параметрический анализатор 4200A-SCS может работать совместно с рядом ручных и полуавтоматических зондовых устройств для тестирования полупроводниковых компонентов, а также с контроллерами, работающими при криогенных температурах, такими как MPI, Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore модель 336.
Основные преимущества
- Простота тестирования — нужно только «указать и щёлкнуть»
- Режим ручного тестирования с функциями автоматического
- Режим отключения пробника позволяет выполнять отладку без удавления команд пробника
Снижение затрат и защита капиталовложений
Планы Keithley Care обеспечивают быстрое оказание качественных услуг за часть стоимости, уплачиваемой при заказе услуги без договора. Начать ремонт можно в один клик или по телефону, нет необходимости запрашивать ценовое предложение, оформлять наряд-заказ или дожидаться согласования.
| Техническое описание | Модель | Описание | Цена |
|---|---|---|---|
| Просмотр технического описания | 4200A-SCS-PKA ВАХ с высоким разрешением |
4200A-SCS: параметрический анализатор (основной блок) 4201-SMU: два источника-измерителя (SMU) средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями 4200-PA: предусилитель 8101-PIV: тестовая оснастка с типовыми устройствами |
Запросить цену |
| Просмотр технического описания | 4200A-SCS-PKB ВАХ и ВФХ с высоким разрешением |
4200A-SCS: параметрический анализатор (основной блок) 4201-SMU: два источника-измерителя (SMU) средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями 4200-PA: предусилитель 4215-CVU: многочастотный модуль для измерения ВФХ с высоким разрешением 8101-PIV: тестовая оснастка с типовыми устройствами |
Запросить цену |
| Просмотр технического описания | 4200A-SCS-PKC ВАХ и ВФХ мощных устройств |
4200A-SCS: параметрический анализатор (основной блок) 4201-SMU: два источника-измерителя (SMU) средней мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями 4211-SMU: два источника-измерителя (SMU) высокой мощности для тестирования устройств с большими ёмкостями 4200-PA: два предусилителя 4215-CVU: многочастотный модуль для измерения ВФХ с высоким разрешением 8101-PIV: тестовая оснастка с типовыми устройствами |
Запросить цену |
| Просмотр технического описания | 4200-BTI-A Сверхбыстрый измеритель темп. нестабильности при отриц./положит. смещ. |
Для сложных измерений температурной нестабильности при отрицательном и положительном смещении кремниевых КМОП приборов, созданных с применением самых современных технологий В комплект поставки 4200-BTI-A входят:
|
Запросить цену |
Определение характеристик биосенсоров
Биосенсоры или полевые транзисторы на основе биосенсора преобразуют биологический отклик на анализируемое вещество в электрический сигнал. Программное обеспечение Clarius, встроенное в анализатор 4200A-SCS, содержит процедуру тестирования полевых транзисторов на основе биосенсора. Этой процедурой можно воспользоваться как первым этапом процесса определения передаточных и выходных характеристик биосенсоров, по результатам которого можно двигаться дальше.
Чтобы подготовиться к работе, загрузите руководство по применению анализатора для тестирования биосенсоров
Измерения ёмкостей фемтофарадного диапазона
Ёмкости до 1 фемтофарада можно измерять при помощи модуля 4215-CVU. Так, при измерении ёмкости 1 фФ модулем 4215-CVU в режиме подачи управляющего напряжения 1 В переменного тока можно снизить уровень шума до шести аттофарад. И это только одна из нескольких десятков областей применения, которые интегрированы в ПО Clarius и используются для измерения ёмкостей и определения важных параметров.
Измерения фемтофарадных (1e-15Ф) ёмкостей при помощи модуля 4215-CVU
Оптимальные измерения ёмкостей и комплексного сопротивления переменному току
Основные преимущества
- Встроенная функция измерения фемтофарадных ёмкостей
- 10 000 выборок частоты в диапазоне от 1 кГц до 10 Мгц
- Пользовательская настройка любого теста для любого устройства при помощи библиотеки пользователя
Надёжность полупроводниковых приборов и энергонезависимой памяти
При тестировании новых разработок может понадобиться точное определение импульсных вольт-амперных характеристик. В анализаторе 4200A-SCS предусмотрена поддержка и готовые тесты для устройств энергонезависимой памяти (NVRAM) — от ячеек флеш-памяти с плавающим затвором до резистивной и ферроэлектрической памяти с произвольным доступом (ReRAM и FeRAM). Возможность одновременной работы прибора в режиме источника и измерителя тока и напряжения позволяет определять характеристики переходных процессов и ВАХ.
Оценка деградации полевых МОП-транзисторов вследствие инжекции горячих носителей
Решения по измерению наносекундных импульсов, необходимые для тестирования энергонезависимой памяти
Измерения вольт-фарадных характеристик высокоимпедансных устройств
Технология Keithley для измерений ВФХ при очень низких частотах, адаптируемая под требования заказчиков, предназначена для анализа ёмкости высокоимпедансных образцов. Обычно измерения выполняются только при помощи анализаторов и источников-измерителей, но для более высоких частот может также понадобиться модуль 4210-CVU.
Основные преимущества
- Диапазон частот от 0,01 до 10 Гц, чувствительность от 1 пФ до 10 нФ
- Стандартное разрешение 3½ разряда, минимальная ёмкость 10 фФ
Тестирование при использовании длинных кабелей или оснастки с большими ёмкостями
Если при тестировании необходимы длинные кабели или оснастка с большими ёмкостями, рекомендуется использование источников-измерителей 4201 или 4211-SMU. Эти источники-измерители тестирования жидкокристаллических элементов, зондовым устройствам, коммутационным матрицам, а также многим другим большим или сложным системам тестирования. Модели с возможностью установки в полевых условиях позволяют расширять возможности систем тестирования без возврата прибора в сервисный центр.
Удельное сопротивление материалов
При помощи анализатора 4200A-SCS со встроенными источниками-измерителями (SMU) можно намного проще измерять удельное сопротивление, используя четырёхзондовый метод измерения двумерного сопротивления или метод ван дер Пау. Встроенные в прибор тесты автоматически запускают повторяемые расчёты ван дер Пау, сокращая затраты времени при разработке. Максимальное разрешение по току 10 аА и входной импеданс больше 1016 Ом обеспечивают более точные и достоверные результаты.
Измерение напряжения Холла методом ван дер Пау при помощи параметрического анализатора 4200A-SCS
Определение характеристик полевых МОП-транзисторов
В анализатор 4200A-SCS можно встроить все приборы, необходимые для определения всех характеристик МОП-структур путём тестирования отдельных элементов или пластины. Встроенные в прибор тесты и планы тестирования помогают определить толщину оксидного слоя МОП-конденсатора, пороговые напряжения, концентрацию примесей, концентрацию подвижных ионов и другие характеристики. Все эти тесты запускаются простым нажатием кнопки на одном приборе.
Automated Control from Lab to Fab
Keithley's Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.
- Perform simple 1-off tests or build complex project trees
- Code with Python inside ACS for unlimited flexibility and control
- Manual or automated wafer prober control
- Data management and statistical analysis capabilities
Программный пакет Clarius+ для анализа параметров
Пакет программного обеспечения Clarius+ значительно упрощает определение и анализ характеристик материалов и устройств. Программа встраивается в анализатор 4200A-SCS и обеспечивает планирование, настройку и анализ результатов испытаний. Кроме того, ПО Clarius можно установить на любой ПК с ОС Windows 10 и с её помощью планировать и настраивать испытания перед выполнением в лаборатории, либо анализировать собранные данные.
- Более 200 предварительно настроенных тестов для ускорения лабораторных испытаний
- Рекомендуемые данные, собранные инженерами Keithley в реальных ситуациях
- Встроенная контекстная справка и руководства по применению
- Режим мониторинга (Monitor) для просмотра результатов в реальном времени