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Validation des architectures de calcul haute performance (HPC)
Découvrez comment nos solutions vous aident à accélérer les tests d'intégrité du signal et de l'alimentation pour l'évolutivité de la bande passante et du débit de données, ainsi qu'à valider les architectures DDR pour une bande passante mémoire élevée et à garantir la conformité JEDEC.
Applications de test pour centres de données IA
Mesure et modélisation de l'intégrité du signal
Les oscilloscopes Tektronix, associés à la modélisation de l'intégrité du signal (SIM), vous permettent de supprimer les effets du chemin de mesure, d'intégrer des conditions de voies réelles et de simuler la façon dont les signaux se propagent sur des circuits imprimés complexes, le tout directement sur l'instrument. Avec SIM Advanced (SIMA), vous bénéficiez d'une puissante modélisation de l'égalisation - y compris l'égalisation du récepteur (CTLE, FFE, DFE) et la préaccentuation/désaccentuation de l'émetteur - pour ouvrir les yeux et explorer les compromis de conception dans des environnements haute vitesse complexes.
Ces outils fonctionnent en synergie avec des options avancées d’analyse de la gigue et des diagrammes en œil (par exemple, DJA) pour décomposer les effets de gigue déterministe et aléatoire. Cela permet de vérifier la conformité tout en préservant la marge de conception.
Validation du réseau de distribution d'électricité (PDN)
Les systèmes d’IA exigent aussi une alimentation robuste et stable. Fournir des centaines d'ampères sur des rails inférieurs à 1 V avec un bruit et des perturbations transitoires minimaux est fondamental pour obtenir des performances déterministes. Les oscilloscopes et sondes Tektronix permettent la caractérisation de l'impédance et des transitoires du PDN, la mesure et l'analyse des rails à courant élevé.
Mise en conformité des masques dans des délais serrés
Les solutions Tektronix permettent aux ingénieurs de mesurer et de vérifier les marges de synchronisation DDR directement sur les interfaces de mémoire à haute vitesse. Grâce à des analyses avancées de diagrammes en œil et de synchronisation, les concepteurs peuvent s’assurer que les signaux restent dans les limites du masque défini par le JEDEC tout en tenant compte des pertes de voie, des réflexions et des variations d’interconnexion réelles. Cela est essentiel pour maintenir l’intégrité des données et la fiabilité du système à mesure que les vitesses de mémoire augmentent.
Tests de conformité des émetteurs et des récepteurs
Les oscilloscopes Tektronix, associés à des flux de travail automatisés de conformité DDR, simplifient le processus de validation des émetteurs et des récepteurs DDR.
Les ingénieurs peuvent effectuer des tests de conformité TX afin de s’assurer que les modules de mémoire génèrent des signaux dans les plages de tension et de synchronisation requises. Ils réalisent également des tests de conformité RX pour vérifier que les contrôleurs de mémoire échantillonnent correctement les données entrantes dans les conditions les plus défavorables.