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Gamme Keithley 700 de systèmes de commutation à semi-conducteurs

Les vitesses élevées et les faibles courants des composants à semi-conducteurs exigent une haute qualité ainsi que des hautes performances de commutation pour les signaux I-V et C-V. Nous proposons des solutions de commutation convenant aux applications de test en production et aux applications de R&D des semi-conducteurs, avec des testeurs pouvant prendre en charge jusqu’à 2 880 voies, et une gamme de cartes matrices spécifiquement conçues pour les applications de semi-conducteurs.

keithley-logo

Keithley 700 Series Semiconductor Switching Systems
Modèle Description Tarif Configure And Quote
708B

Matrice de commutation pour le test de semi-conducteurs, un slot, jusqu’à 96 points de croisement

US $6,850 Configuration et devis
707B

Matrice de commutation pour le test de semi-conducteurs, six slots, jusqu’à 576 points de croisement

US $12,400 Configuration et devis
Accessoire 7072
Fiche technique Description
CARTE DE MATRICE SEMI-CONDUCTEURS 8X12
Accessoire 7072-HV
Fiche technique Description
CARTE SEMI-CONDUCTEURS HV 8X12
Accessoire 7174A
Fiche technique Description
CARTE DE MATRICE HAUTE VITESSE 8X12 LO I
Fiche technique Accessoire Description
Affichage Fiche technique 7072 CARTE DE MATRICE SEMI-CONDUCTEURS 8X12
Affichage Fiche technique 7072-HV CARTE SEMI-CONDUCTEURS HV 8X12
Affichage Fiche technique 7174A CARTE DE MATRICE HAUTE VITESSE 8X12 LO I

Contrôle automatisé du laboratoire à la chaîne de fabrication

La suite Automated Characterization Suite (ACS) de Keithley offre un contrôle total de votre équipement. Que vous ayez besoin de contrôler quelques instruments sur votre banc ou d'automatiser une baie de test entière pour la production, ACS offre un environnement flexible et interactif pour la caractérisation des appareils, les tests paramétriques, les tests de fiabilité et les tests fonctionnels simples.

  • Effectuez des tests individuels simples ou créez des arbres de projet complexes
  • Codez avec Python dans ACS pour une flexibilité et un contrôle illimités
  • Contrôle manuel ou automatisé du prober au niveau du wafer
  • Capacités de gestion des données et d'analyse statistique

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