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Validierung von HPC-Architekturen
Erfahren Sie, wie unsere Lösungen Sie bei der Beschleunigung von Signal- und Stromintegritätstests für Bandbreiten- und Datenratenskalierung sowie bei der Validierung von DDR-Architekturen für hohe Speicherbandbreite und der Gewährleistung der JEDEC-Konformität unterstützen.
KI-Rechenzentrum-Testanwendungen
Messung und Modellierung der Signalintegrität
Mit Oszilloskopen von Tektronix können Sie in Kombination mit Signalintegritäts Modeling (SIM) Messpfadeffekte entfernen, reale Kanalbedingungen einbetten und simulieren, wie sich Signale über komplexe Leiterplattenverbindungen ausbreiten — alles direkt am Gerät. Mit SIM Advanced (SIMA) erhalten Sie leistungsfähige Modelle zur Entzerrung – einschließlich Empfängerentzerrung (CTLE, FFE, DFE) sowie Sende‑Pre‑Emphasis/De‑Emphasis – um geschlossene Augen zu öffnen und Design‑Trade‑offs in anspruchsvollen High‑Speed‑Umgebungen zu analysieren.
Diese Werkzeuge arbeiten Hand in Hand mit fortschrittlichen Jitter- und Augendiagrammanalyseoptionen (z. B. DJA), um deterministische und zufällige Jittereffekte aufzuschlüsseln und die Einhaltung der Vorgaben zu überprüfen, während gleichzeitig die Designmarge erhalten bleibt.
Validierung des Stromversorgungsnetzes (PDN)
KI-Systeme benötigen zudem eine absolut zuverlässige Stromversorgung. Die Bereitstellung von Hunderten von Ampere bei Spannungen unter 1V mit minimalem Rauschen und minimalen transienten Störungen ist grundlegend für ein deterministisches Verhalten. Oszilloskope und Tastköpfe von Tektronix ermöglichen die Charakterisierung von PDN-Impedanzen und Transienten, die Messung und Analyse von Hochstromschienen sowie die Korrelation von Leistungsereignissen mit dem Verhalten des Datenpfads.
Erreichen der Maskenkonformität bei engen Zeitfenstern
Die Lösungen von Tektronix bieten Ingenieuren die Möglichkeit, DDR-Timing-Margen direkt auf Hochgeschwindigkeits-Speicherschnittstellen zu messen und zu verifizieren. Mithilfe fortschrittlicher Augendiagramm- und Zeitanalysen können Entwickler sicherstellen, dass die Signale innerhalb der von JEDEC definierten Maske bleiben, während gleichzeitig reale Kanalverluste, Reflexionen und Schwankungen in den Verbindungen berücksichtigt werden. Dies ist von entscheidender Bedeutung für die Aufrechterhaltung der Datenintegrität und Systemzuverlässigkeit bei steigenden Speichergeschwindigkeiten.
Konformitätsprüfung von Sender und Empfänger
Oszilloskope von Tektronix vereinfachen in Kombination mit automatisierten DDR-Compliance-Workflows den Prozess der Validierung von DDR-Sendern und -Empfängern.
Ingenieure können TX-Konformitätstests durchführen, um sicherzustellen, dass Speichermodule Signale innerhalb der erforderlichen Spannungs- und Zeitfenster übertragen, sowie RX-Konformitätstests durchführen, um sicherzustellen, dass Speichercontroller eingehende Daten im schlimmsten Fall korrekt abtasten.