AI 資料中心電源架構測試

AI 資料中心電源架構測試

隨著 AI 資料中心過渡到 800 V DC 基礎架構和更高的機架電源密度，驗證團隊在驗證配電架構時面臨新的複雜度。固態變壓器、電源架和 HVDC 電源架必須在實際的高電壓、高動態負載條件下進行測試，以確保部署前的效率、穩定性和長期可靠性。

泰克提供先進的解決方案，專為負責驗證新一代電源子系統的驗證和測試經理、實驗室經理和驗證工程師而打造。我們的動態再生式電子負載可協助設計資料中心配電子系統的工程師模擬機架級 800 V 直流電源軌道行為，在系統電壓下實現動態負載轉換，並透過節省空間、具成本效益、可擴充且高密度的測試系統回收能量 - 這與功率密度明顯較低且耗散操作的傳統解決方案不同。

從固態變壓器驗證到電源架和完整 HVDC 機架測試，泰克可實現精確、高效和未來就緒的電源架構資格驗證。

電池能源儲存系統 (BESS) 測試

電池能源儲存系統正逐漸成為 AI 資料中心的關鍵元素，在這些資料中心中，極高的功率密度、快速的負載瞬變以及 800 V DC 架構，都需要高度回應且可靠的備援與穩定解決方案。與傳統 UPS 系統不同，現代 BESS 必須處理快速的升降速率、雙向電力源，以及與 HVDC 配電和可再生能源的無縫互動。

泰克提供的測試解決方案可確保精確分析 AI 工作負載設定下的動態充電/放電行為、確保高功率等級下的熱穩定性、驗證保護機制，以及確認長期可靠性和安全性。

功率元件測試

高電流連接器等元件在 AI 資料中心配電中扮演關鍵角色，HV DC 基礎架構和不斷攀升的機架電力等級要求緊湊、低損耗和高可靠性的互連解決方案。隨著電流密度的增加，連接器必須承受較高的熱應力、電阻損失以及重複的插配週期而不會退化。

泰克解決方案可讓您驗證動態負載條件下的載流能力、評估溫度上升和接觸電阻，並確保在短路或熱插拔事件等故障情況下的安全操作。

半導體元件測試

SiC 和 GaN 等半導體材料為研發&D 部門帶來了特殊的挑戰。請參閱我們的半導體特性分析解決方案網站。