AIデータセンタの電力アーキテクチャ・テスト

AIデータセンタの電力アーキテクチャ・テスト

AIデータセンタが800V DCインフラストラクチャとより高いラック電力密度へと移行するにつれ、認定チームは電力分配アーキテクチャの検証において新たなレベルの複雑さに直面することになります。半導体変圧器、パワーシェルフ、およびHVDC電力ラックは、導入前に、効率性、安定性、および長期的な信頼性を確保するために、現実的な高電圧、高動特性の負荷条件下で試験を行う必要があります。

テクトロニクスは、次世代電源サブシステムの検証を担当する認定・試験管理者、ラボ管理者、認定エンジニア向けに特別に設計された高度なソリューションを提供します。当社の動的で再生可能な電子負荷は、データセンタの配電サブシステムを設計するエンジニアが、ラックレベルの800V DC電源レール動作をエミュレートするのに役立ちます。システム電圧での動的な負荷遷移を可能にし、省スペース、コスト効率、拡張性、高密度なテストシステムでエネルギーを回収します。これは、電力密度が著しく低く、動作が散逸する従来のソリューションとは異なります。

半導体変圧器の検証から、パワーシェルフやHVDCラック全体のテストまで、テクトロニクスは、正確で効率的、かつ将来を見据えた電力アーキテクチャの認証を可能にします。

バッテリ・エネルギー貯蔵システム（BESS）のテスト

バッテリ・エネルギー貯蔵システムは、AIデータセンタにおいて重要な要素になりつつあります。AIデータセンタでは、極めて高い電力密度、高速な負荷変動、および800V DCアーキテクチャにより、応答性が高く信頼性の高いバックアップおよび安定化ソリューションが求められています。従来のUPSシステムとは異なり、最新のBESSは、急速な出力変化、双方向の電力潮流、およびHVDC配電網や再生可能エネルギー源とのシームレスな連携に対応する必要があります。

テクトロニクスは、AIワークロード・プロファイル下での動的な充放電挙動の精密な分析、高電力レベルでの熱安定性の確保、保護機構の検証、長期的な信頼性と安全性の確認を可能にするテストソリューションを提供しています。

電源部品のテスト

高電流コネクタなどの部品は、AIデータセンタの電力分配において重要な役割を果たします。そこでは、高電圧DCインフラストラクチャと増加するラック電力レベルにより、コンパクトで低損失かつ高信頼性の相互接続ソリューションが求められています。電流密度が増加するにつれて、コネクタは劣化することなく、高い熱応力、抵抗損失、および繰り返しの嵌合サイクルに耐えなければなりません。

テクトロニクスのソリューションは、動的負荷条件下での電流容量の検証、温度上昇や接触抵抗の評価、短絡やホットプラグなどの故障シナリオにおける安全な動作の確保を可能にします。

半導体デバイスのテスト

SiCやGaNなどの半導体材料は、研究開発部門において特有の課題を抱えています。半導体特性評価に関するソリューション・サイトをご覧ください。