On some of our devices+ some of the I/O channels are changed from input to output channels on-the-fly. Can the 3-state bit assignments be changed during the test on-the-fly also?

Q: On some of our devices+ some of the I/O channels are changed from input to output channels on-the-fly. Can the 3-state bit assignments be changed during the test on-the-fly also?

The TLA7PG2 does not support on-the-fly channel-to-channel changes.

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