Le système de la gamme EA-ELR 21000 associe une nouvelle charge électronique de 1 000 V à une capacité de test modulaire allant de 30 kW à 1,92 MW.
BEAVERTON, Oregon – Tektronix a annoncé aujourd'hui le lancement du système de test dynamique de la gamme EA-ELR 21000. Il s'agit d'un système de test à charge électronique hautement dynamique à gamme auto-ajustable, reposant sur une architecture entièrement régénérative. Il est conçu pour valider les architectures d'alimentation CC ±400 V et 800 V déployées dans les centres de données dédiés à l'IA.Lors des tests, au lieu de dissiper l'énergie absorbée sous forme de chaleur, le système la réinjecte dans le réseau électrique avec un rendement de régénération atteignant 95 %. Cela permet aux fabricants d'effectuer des validations prolongées à haute puissance tout en réduisant la sollicitation des infrastructures de refroidissement et d'alimentation de leur laboratoire. Le système s'articule autour du nouveau module de charge électronique régénérative de la Série EA-ELR 21000-80 4U HS, d'une puissance de 30 kW, capable de supporter jusqu'à 1 000 V et 80 A.
La demande de puissance de calcul pour les applications d'IA transforme les systèmes d'alimentation des centres de données, depuis le raccordement au réseau jusqu'au niveau des baies informatiques.Face à l'augmentation de la densité de calcul, les fabricants s'orientent vers des conceptions de type « sidecar » (unités d'alimentation déportées) en ±400 V et vers une distribution CC en 800 V. Cela permet de réduire les pertes liées à la conversion de courant ainsi que la quantité de cuivre nécessaire au transport de l'énergie dans l'installation.Parallèlement, les charges de travail liées à l'IA engendrent des variations de la demande d’énergie aussi rapides qu’importantes. Celles-ci se répercutent sur les modules d'alimentation, les baies d'alimentation et l’ensemble de l'infrastructure.
Pour les ingénieurs qui développent de telles infrastructures d’alimentation, les tests à effectuer à plus haute puissance ne constituent qu'une partie du défi à relever.Ils doivent notamment reproduire des conditions de charge évoluant rapidement, évaluer la stabilité et les performances de conversion à la tension nominale du système, et mener à bien des programmes d'essais exigeants sans pour autant augmenter la puissance souscrite, la capacité de refroidissement ou l'espace occupé au sol par les équipements.
« L'IA fait de l'architecture d'alimentation un choix de conception stratégique », a déclaré James Hitchcock, Vice President and General Manager of the EA Portfolio chez Tektronix.« Les solutions conçues pour les systèmes informatiques de précédente génération n'étaient adaptées ni à l'ampleur ni au rythme des charges de travail actuellement nécessaires à l'IA. Les systèmes d'alimentation ne peuvent donc plus adopter une approche universelle.L'enjeu consiste à concevoir et à valider des architectures d'alimentation plus efficaces et plus résilientes, dédiées aux infrastructures d'IA en cours de déploiement, en s'appuyant sur des systèmes de test capables de suivre le rythme et l'ampleur de cette évolution. »
Une validation dynamique sans les habituels compromis
Les méthodes de test traditionnelles à haute puissance imposent souvent aux équipes un choix difficile : reproduire des comportements de charge à évolution rapide ou gérer les contraintes thermiques, de refroidissement et de raccordement au réseau inhérentes aux essais par dissipation.S'appuyant sur l'expertise éprouvée d'EA en matière de systèmes de test d’alimentation CC programmables de très haute puissance, le système de la gamme EA-ELR 21000 associe une capacité d’émulation de charge hautement dynamique à une architecture entièrement régénérative au sein d'une solution intégrée.
Cette combinaison redéfinit ce qui est réalisable en laboratoire.L'émulation de charges à forte dynamique permet aux ingénieurs de mettre en évidence les problèmes de chute de tension, de temps de rétablissement et de stabilité avant que l'infrastructure d'alimentation ne soit déployée dans les centres de données.L’architecture entièrement régénérative de cette solution leur permet de mener ces tests à haute puissance, l'alimentation secteur couvrant principalement les pertes du système plutôt que la totalité de la puissance de crête du test.
Le système de test dynamique de la Série EA-ELR 21000 offre :
- Une vitesse de variation du courant allant jusqu'à 12 ampères par microseconde (à une puissance de 240 kilowatts) pour simuler les transitions de charge rapides mises en œuvre par les baies et racks d'alimentation 800 V.
- Un rendement de régénération atteignant 95 % pour réinjecter l'énergie absorbée dans le réseau, ce qui réduit le dégagement de chaleur et les besoins de refroidissement en laboratoire, tout en allégeant les contraintes liées à l'infrastructure électrique lors des tests de longue durée (rendement, rodage, endurance et durée de vie).
- Une capacité de test modulaire allant jusqu'à 1,92 mégawatt, répartie sur un maximum de huit racks et 64 charges, avec une évolutivité par paliers de 30 kilowatts permettant aux équipes d'accroître leur capacité de validation au rythme de l'augmentation des besoins en puissance des racks et des infrastructures.Chaque rack fournit jusqu'à 240 kilowatts pour un encombrement au sol d’à peine 0,6 mètre carré.
Le modèle EA-ELR 21000-80 4U HS délivre jusqu'à 1 000 volts, 80 ampères et 30 kilowatts dans un format 4U, procurant ainsi aux équipes la marge de tension nécessaire pour évaluer les architectures d'alimentation 800 V CC.La capacité intégrée de génération de formes d'onde permet de reproduire des profils de charge, tandis que des commandes coordonnées permettent à plusieurs charges de fonctionner comme un système de test unique et synchronisé.Cette architecture modulaire offre également la possibilité d'augmenter la capacité en fonction de l'évolution des besoins et d'assurer la maintenance de modules individuellement sans perturber l'ensemble du système.
La gamme EA-ELR 21000 est conçue pour les baies et châssis d'alimentation prenant en charge des systèmes de distribution en 800 V CC, ainsi que pour les transformateurs statiques convertissant l'énergie CA moyenne tension pour les infrastructures CC haute puissance.Elle permet aux fabricants d'évaluer le comportement dynamique, la stabilité, le rendement de conversion et la fiabilité à long terme de ces systèmes avant leur déploiement dans des centres de données dédiés à l'IA.
À venir cet automne : une solution de test régénératif à haute dynamique pour les systèmes de conversion de puissance de prochaine génération
Cet automne, Tektronix lancera le modèle EA-ELR 20080-1000 4U HS, un module de charge électronique régénérative de 80 volts et 1 000 ampères. Ce module est conçu pour aider les ingénieurs à valider les rails d’alimentation de 48 à 54 volts qui acheminent des courants élevés au plus près des unités de calcul dédiées à l'IA.Il s'inscrit dans la démarche d'innovation continue de Tektronix en matière de tests haute puissance et garantit aux ingénieurs de disposer des outils adaptés aux systèmes de conversion d'énergie de prochaine génération mis en œuvre dans les centres de données d'IA.
Disponibilité
Le système de test dynamique de la gamme EA-ELR 21000 et le module EA-ELR 21000-80 4U HS sont disponibles dès à présent.Découvrez comment EA fait progresser le processus de validation des systèmes d'alimentation des centres de données dédiés à l'IA sur tek.com/ea-elr-21000.
À propos de Tektronix
Depuis 80 ans, les ingénieurs du monde entier font confiance à Tektronix pour mesurer, explorer et innover.Aujourd’hui, nous proposons des solutions de test et de mesure qui allient précision, simplicité et performance, permettant aux ingénieurs d’accélérer leurs découvertes et de concrétiser les innovations qui façonneront le monde de demain.Pour en savoir plus, rendez-vous sur tek.com/newsroom.
Tektronix est une marque déposée de Tektronix, IncTous les autres noms commerciaux cités sont des marques de service, des marques commerciales ou des marques déposées de leurs sociétés respectives.
SOURCE : Tektronix, Inc.
Contacts presse :