Keithley has long had a strong presence in high power semiconductor device test. Most recently, Keithley introduced the 2470 1.1 kV Graphical SourceMeter® Source Measure Unit to address challenging measurements for SiC and GaN device testing. This application note considers the application of this new source measure unit with Keithley’s KickStart software for high voltage semiconductor
device testing.
Contactez-nous
Chat en direct avec un représentant Tek. Service disponible de 9 h à 17 h, CET jours ouvrables.
Téléphone
Appelez-nous au
Disponible de 9 h à 17 h CET jours ouvrables.
Télécharger
Télécharger des manuels, des fiches techniques, des logiciels, etc. :
Feedback
2470 Breakdown and Leakage Current Measurements on High Voltage Semiconductor Devices
