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DDR5 Memory

5G 的採用推動了各種令人興奮的技術成長,從擴增實境 (AR) 和人工智慧 (AI),以至雲端運算和物聯網。所有這些都依賴於更快地儲存和訪存取更多資料,因此更突顯了第五代記憶體 (DDR5) 的重要性。DDR5 改善了頻寬、密度和通道效率,但是更高的資料傳輸率和更快的訊號速度導致挑戰訊號完整性極限的複雜設計,並要求更高的效能量測,以便達到合規性、進行除錯和驗證。

記憶體解決方案

DDR5

TekExpress DDR5 發射器解決方案符合 JEDEC 記憶體標準要求,因此您可將更多時間用來驗證記憶體設計,並降低收集資料的時間。DDR5 測試自動化軟體選項可用於 MSO /DPO70000 混合訊號示波器和 DPO70000SX ATI 高性能示波器。

主要功能:

  • DDR DFE 獨立應用程式
  • DFE 分析用於突發式 DDR 流量及寫入資料的眼圖量測
  • 透過 SDLA 去嵌化
  • 在使用者定義模式下,最高可達 8400M T/s

瞭解更多:

TekExpress DDR5 發射器產品規格表

檢視 DDR5 手冊

DDR Memory Testing & DFE Analysis

LPDDR5

TekExpress LPDDR5 發射器解決方案符合最新 JEDEC 記憶體標準,因此您可放心以最高資料速率驗證 LPDDR5 DRAM 設計。支援 MSO / DPO70000 混合訊號示波器及 DPO70000SX ATI 高性能示波器。

主要功能:

  • 自動讀取和寫入脈衝分離
  • 使用 SDLA 的去嵌化技術
  • 更快的時間,更快的進入市場
  • 支援多頻率脈衝偵測法 - 讀取和寫入、僅寫入、僅讀取、和視覺搜尋
  • 適合寫入資料、CA、CS 眼圖量測的六角形遮罩及邊際分析

瞭解更多:

LPDDR5 發射器產品規格表

檢視 LPDDR5 手冊

DDR Memory

第 3 代與第 4 代 DDR/ LPDDR

快速的資料傳輸率、靈活性和成熟的技術,讓前幾代的 DDR4、LPDDR4、DDR3 和 LPDDR3 DRAM 在穿戴裝置、醫療和物聯網應用中極為普遍。

DDR4/LPDDR4 和 DDR3/LPDDR3 測試自動化軟體可用於 MSO /DPO70000 混合訊號示波器和 DPO70000SX ATI 高性能示波器。DDR3/LPDDR3 自動化軟體也可用於 Tektronix 6 系列 B MSO 混合訊號示波器。

主要功能:

  • 輕鬆識別讀寫
  • 根據 JEDEC 規格的自動設定和測試
  • 自動產生報告
  • 支援多種探測器和高效能探棒

瞭解更多:

在 MSO/DPO70000 和 DPO70000SX 示波器上測試 DDR/LPDDR 第三代和第四代

在 6 系列 MSO 示波器上測試 DDR/LPDDR 第三代

DDR Memory Trigger and DDR3 Memory

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當您觀看此簡報時,請瞭解 DDR5 SDRAM 記憶體裝置的特性和除錯技術。
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DDR5 和 UDA 模式

瞭解使用者定義的擷取模式如何讓使用者在自動化架構中影響示波器設定的每個細節。
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DDR5 記憶體驗證與除錯

閱讀我們的白皮書以瞭解如何解決 DDR5 帶來的效能提升對分析和測試 DDR5 裝置的影響。
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LPDDR5 的挑戰與解決方案

觀看《如何解決關鍵的 LPDDR5 DRAM 測試挑戰》,瞭解測試技巧和技術,以滿足此行動記憶體標準帶來的設計挑戰。
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我們的部落格說明新一代記憶體 DDR5 如何突破高速訊號傳輸極限,並提出新的測試挑戰。
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DDR/LPDDR 應用的彈性探棒頭

Tektronix P7700 探棒的全新焊入式探棒頭,可提高 DDR 和 LPDDR 電氣驗證應用的訊號擷取效能。