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Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Accélérez la recherche et les études de fiabilité et d’analyse des défauts des composants semiconducteurs, des matériaux et des processus grâce à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Analyseur paramétrique de très hautes performances, il permet des mesures synchronisées courant-tension (I-V), capacité-tension (C-V) et les mesures I-V en impulsions ultrarapides.

Essayez-le GRATUITEMENT sur votre PC.

Product-series_4200-promo-options

Gamme de courant-tension
(I-V) DC

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Plage de capacité-tension
(C-V)

Polarisation 1 kHz - 10 MHz
±30 V DC

Gamme I-V
en impulsion

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
fréquence d’échantillonnage 200 Méch./s, 5 ns

 

Analysis function of semiconductor parameter analyzer

Aperçu rapide et clair des paramètres.

Accéder à de grandes découvertes n’a jamais été aussi facile. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS élimine jusqu’à 50 % de la complexité des opérations de la configuration des tests à la caractérisation afin d'offrir des capacités de mesure et d’analyse sans compromis. De plus, l’expertise de mesure intégrée, une première sur le marché, vous guide dans les tests et garantit la fiabilité de vos résultats.

Points forts

  • Matériel de mesure performant pour effectuer des mesures DC, I-V, C-V et d'impulsions I-V
  • Commencez à effectuer des tests immédiatement grâce aux centaines de tests d'application personnalisables inclus dans le logiciel Clarius
  • Extraction automatisée de paramètres, graphiques de données et fonctions d'analyse en temps réel

Caractérisation C/V précise

Mesurez des unités de femtofarads avec le module 4215-CVU, la dernière unité de mesure de capacité-tension de Keithley. En intégrant une source 1 V AC dans l'architecture de l'excellent CVU Keithley, le module 4215-CVU permet d'effectuer des mesures de capacité avec un faible niveau de bruit à des fréquences entre 1 kHz et 10 MHz.

Points forts

  • Le meilleur analyseur C-V de sa catégorie qui permet de délivrer une tension de 1 V AC
  • Résolution en fréquence de 1 kHz entre 1 kHz et 10 MHz
  • Mesure de la capacité, de la conductance et de d'admittance
  • Mesure jusqu'à quatre voies avec le module 4200A-CVIV Multiswitch

Effectuez des mesures de capacité en femtofarad (1e-15 F) avec le module 4215-CVU

4200A SCS Front Femtofarad

Lancez la mesure. Changez de mesures. Répétez.

Le multicommutateur 4200A-CVIV passe automatiquement des mesures I-V aux mesures C-V sans recâblage ni relevage des pointes de test. À l’inverse des produits concurrents, l’écran quatre voies du modèle 4200A-CVIV fournit un aperçu visuel de la mesure en cours pour pouvoir rapidement configurer les tests et facilement résoudre les problèmes en cas de résultats inattendus.

Points forts

  • Permet la mesure C-V sur n’importe quel port de test du composant sans recâblage
  • Configurable par l’utilisateur pour la fonction faible courant
  • Personnalisez le nom des voies de sortie
  • Consultez l’état des tests en temps réel

Mesures de courant faible stables pour la caractérisation I-V

Avec les modules 4201-SMU et 4211-SMU, vous pouvez effectuer des mesures de courants faibles stables dans un système à capacité élevée. Les quatre modèles d'unités de source et de mesure (SMU) au choix permettent de personnaliser le 4200A-SCS pour qu'il réponde à tous vos besoins en matière de mesure I-V. Grâce aux unités qui peuvent être installées sur le terrain et aux modules préamplificateurs optionnels, Keithley vous garantit de pouvoir effectuer les mesures de courant faible les plus précises sans ou avec un très court temps d'arrêt.

Points forts

  • Ajoutez un SMU sans renvoyer l'appareil en usine
  • Effectuez des mesures de l'ordre du femtoampère
  • Jusqu'à 9 voies SMU
  • Optimisé pour les grandes longueurs de câble ou les grandes pointes
半導体パラメータアナライザは解析用プローバと温度コントローラをサポート

Solution intégrée avec sondes analytiques et commandes cryogéniques

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS est compatible avec de nombreux testeurs sous pointes pour wafer et régulateurs thermiques cryogéniques manuels et semi-automatiques, tels que les MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Modèle 336.

Points forts

  • Fonction de séquencement de test « pointer-cliquer »
  • Le mode « manuel » permet de tester le fonctionnement du prober
  • Le mode simulation de sonde permet de résoudre les problèmes sans modifier les commandes

Réduisez les coûts et protégez votre investissement.

Les contrats Keithley Care offrent des services rapides et de grande qualité pour un coût nettement inférieur à ceux des réparations effectuées à la demande des clients. Un clic ou un appel suffisent pour prendre en charge la réparation : pas de devis, de bons de commandes ou de délai de validation.

En savoir plus

 

半導体パラメータアナライザでコスト削減
Fiche technique Modèle Description Offre de prix
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PKA
IV haute résolution
4200A-SCS : unité centrale d'analyseur de paramètres
4201-SMU : deux unités de source et de mesure moyenne puissance pour les configurations à capacité élevée
4200-PA : un préamplificateur
8101-PIV : un accessoire de test avec échantillons
Demander un devis
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PKB
IV et CV haute résolution
4200A-SCS : unité centrale d'analyseur de paramètres
4201-SMU : deux unités de source et de mesure moyenne puissance pour les configurations à capacité élevée
4200-PA : un préamplificateurr
4215-CVU : une unité C-V multifréquence haute résolution
8101-PIV : un accessoire de test avec échantillons
Demander un devis
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PKC
IV et CV haute puissance
4200A-SCS : unité centrale d'analyseur de paramètres
4201-SMU : deux unités de source et de mesure moyenne puissance pour les configurations à capacité élevées
4211-SMU : deux unités de source et de mesure haute puissance pour les configurations à capacité élevées
4200-PA : un préamplificateur
4215-CVU : une unité C-V multifréquences haute résolution
8101-PIV : un accessoire de test avec échantillons
Demander un devis
Afficher la fiche technique 4200-BTI-A
NBTI/PBTI ultrarapide
Le package pour effectuer des mesures NBTI et PBTI sophistiquées sur technologie CMOS hautes performances 4200-BTI-A comprend :
  • (1) module I-V 4225-PMU ultra-rapide
  • (2) modules commutateur/amplificateur à distance 4225-RPM
  • Logiciel de caractérisation automatique (Automated Characterization Suite)
  • Module pour projet de test BTI ultrarapide
  • Câblage
Demander un devis

Caractérisation des biocapteurs

Les biocapteurs (ou bioFET) convertissent la réponse biologique d'un analyte en signal électrique. Le logiciel Clarius intégré au 4200A-SCS comprend un projet de test des bioFET. Utilisez-le comme point de départ pour analyser les caractéristiques de transfert et de sortie de vos biocapteurs, et étoffez votre travail à partir de là.

Téléchargez la note d'application des biocapteurs pour commencer
4200A-SCS
4210CVU-2

Mesures de capacité en femtofarad

Mesurez des capacités inférieures au femtofarad avec le module 4215-CVU. En délivrant 1 V AC, le niveau de bruit du module 4215-CVU ne dépasse pas six attofarads pour la mesure d'une capacité de 1 fF. Le logiciel Clarius comprend des dizaines d'autres applications pour mesurer la capacité et extraire les paramètres importants.

Effectuer des mesures de capacité en femtofarad (1e-15 F) avec le module 4215-CVU

Effectuer des mesures de capacité et d'impédance AC de manière optimale

Points forts

  • Mesures en femtofarads intégrées
  • 10 000 pas de fréquence de 1 kHz à 10 MHz
  • Personnalisation de n'importe quel test pour tous les appareils avec les bibliothèques des utilisateurs

Fiabilité des semiconducteurs et des mémoires non volatiles

Testez vos nouvelles technologies avec la caractérisation I-V en impulsion. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS propose des tests prêts à l’emploi pour les dernières technologies NVRAM, depuis le flash de la grille flottante au ReRAM et FeRAM. Les fonctionnalités doubles de génération et de mesure en courant et tension permettent de caractériser en transitoires les mesures de domaine I-V.

Évaluation de la dégradation HCI sur les composants MOSFET

Solutions à impulsion unique d'une nanoseconde pour le test de mémoires non volatiles

Caractérisation I-V en implusion pour les technologies de mémoire non volatile

Semiconductor and NVM Reliability
C-V Measurement for High Impedance Applications

Mesure C-V pour les applications forte impédance

Utilisez la technique personnalisée Keithley de C-V à très basses fréquences pour analyser la capacité de votre échantillon à haute impédance. Cette technique est utilisée uniquement avec les unités de source et de mesure (SMU), mais peut aussi être combinée à un module 4210-CVU pour effectuer des mesures à plus haute fréquence.

Réaliser des mesures C-V à très basses fréquences sur les composants forte impédance avec l’analyseur de paramètres 4200A-SCS

Conseils et techniques pour simplifier la caractérisation des circuits MOSFET/MOSCAP

Points forts

  • Gamme de fréquence de 0,01 à 10 Hz avec sensibilité de 1 pF à 10 nF
  • Résolution normale à 3,5 digits, minimum typique de 10 fF

Test en utilisant des longs câbles ou des accessoires capacitifs

Utilisez des SMU 4201 ou 4211 lorsque vous effectuez des tests qui requièrent de longs câbles ou des accessoires à capacité élevée. Ces SMU s'avèrent idéaux pour assurer la connexion aux stations de test LCD, aux testeurs sous pointes, aux matrices de commutation à tout autre testeur complexe ou de grandes dimensions. Les versions qui peuvent être installées sur le terrain vous permettent d'augmenter la capacité sans renvoyer l'appareil dans un centre de réparation.

Effectuer des mesures de courants faibles stables en présence d'une capacité de connexion de test élevée à l'aide du 4201-SMU et du 4211-SMU

Testing when using Long Cables or Capacitive Fixtures
Resistivity of Materials

Résistivité des matériaux

Utilisez un analyseur de paramètres 4200A-SCS avec SMU intégrées pour mesurer facilement la résistivité à l’aide d’une sonde colinéaire quatre points ou via la méthode van der Pauw. Les tests intégrés effectuent des calculs van der Pauw automatiques et répétitifs, ce qui vous fait gagner un temps précieux dans vos recherches. Une résolution de courant maximal de 10 aA et une impédance d’entrée de plus de 1 016 Ohm vous assurent des résultats rapides et précis.

Mesures de résistivité des matériaux semiconducteurs avec l’analyseur de paramètres 4200A-SCS et une sonde colinéaire quatre points

Mesure van der Pauw et mesure de la tension de Hall avec l’analyseur de paramètres 4200A-SCS

Caractérisation MOSFET

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS peut regrouper tous les instruments nécessaires à la caractérisation complète des composants MOS pour le test des composants ou test sur wafer. Les tests et les projets fournis permettent de résoudre les questions d’épaisseur d’oxyde du MOSCap, les tensions de seuil, la concentration de dopage, la concentration en ions mobiles, etc. Tous ces tests peuvent être lancés d’une simple pression sur un bouton, sur un seul boîtier.

Caractérisation C‑V des condensateurs MOS à l’aide de l’analyseur de paramètres 4200A-SCS

MOSFET Characterization
Fiche technique Module Description Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4200-PA MODULE DE PRÉAMPLIFICATEUR À DISTANCE Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4200-BTI-A PACKAGE BTI ULTRA-RAPIDE Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4200-SMU UNITÉ DE SOURCE ET DE MESURE MOYENNE PUISSANCE Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4200A-CVIV MODULE COMMUTATION I-V/C-V Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4201-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4210-SMU UNITÉ DE SOURCE ET DE MESURE HAUTE PUISSANCE Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4211-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4215-CVU UNITÉ DE CAPACITÉ-TENSION Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4220-PGU UNITÉ DE GÉNÉRATION D’IMPULSIONS HAUTE TENSION Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4225-PMU UNITÉ DE MESURE D’IMPULSIONS ULTRA-RAPIDE Configuration et devis
Afficher la fiche technique 4225-RPM MODULE DE PRÉAMPLIFICATEUR/COMMUTATEUR À DISTANCE Configuration et devis

Contrôle automatisé du laboratoire à la chaîne de fabrication

La suite Automated Characterization Suite (ACS) de Keithley offre un contrôle total de votre équipement. Que vous ayez besoin de contrôler quelques instruments sur votre banc ou d'automatiser une baie de test entière pour la production, ACS offre un environnement flexible et interactif pour la caractérisation des appareils, les tests paramétriques, les tests de fiabilité et les tests fonctionnels simples.

  • Effectuez des tests individuels simples ou créez des arbres de projet complexes
  • Codez avec Python dans ACS pour une flexibilité et un contrôle illimités
  • Contrôle manuel ou automatisé du prober au niveau du wafer
  • Capacités de gestion des données et d'analyse statistique

Commencer à automatiser

Suite Clarius+ pour les analyses

Avec la suite logicielle Clarius+, il devient très facile de recueillir des informations sur les caractéristiques de vos matériaux et de vos appareils. Celle-ci s’exécute nativement sur le 4200A-SCS pour planifier, configurer et analyser les résultats de vos tests. Clarius peut également s’installer sur n’importe quel PC Windows 10 pour planifier et configurer les tests avant leur exécution en laboratoire, ou analyser les données après leur collecte.

  • Plus de 200 tests préconfigurés pour accélérer vos opérations en laboratoire
  • Exemples réels de données recueillies et organisées par les ingénieurs Keithley
  • Notes contextuelles d’aide et d’application intégrées
  • Mode Moniteur pour visualiser les résultats en temps réel

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