Serielle Hochgeschwindigkeitskommunikation

Die Standards für digitale Schnittstellen der nächsten Generation (serielle Schnittstellen, Speicher- und Anzeigeschnittstellen usw.) verschieben die Grenzen für heutige Tools zur Konformitätsprüfung und Fehlersuche immer weiter. Hieraus entstehen mehrere Probleme beim Entwurf schneller Sende- und Empfangsschaltungen, u. a.

eingeschränkter Zugang zu Signalen aufgrund der kleineren Bauelementeabmessungen
Busverhalten bei neuen Schemata zur Energieeinsparung
Validierung neuer Funktionen zur Signalcodierung und -entzerrung bei Signalisierungsschnittstellen
So viele Validierungstests bei so wenig verfügbarer Zeit!

Tektronix bietet Pakete für automatische Messungen, mit denen die Prüfzyklen zur Validierung der physischen Schicht verkürzt werden können und die Konsistenz sichergestellt wird. Beschleunigen Sie die Fehlerbehebung mit Tools wie Protokolldekodierung und visuelle Trigger, wenn Konformitätsmessungen fehlschlagen. Sie können Jitter und Rauschen erkennen, die durch Störquellen wie Übersprechen und Rauscheinkopplung von anderen Leitungen erzeugt werden.

STANDARDS UND TECHNOLOGIEN

Ausgewählte Inhalte

Test und Fehlersuche für PCIe, SAS, SATA beschleunigen

Um mit den Datenraten und Speicherstandards der nächsten Generation mitzuhalten, sind End-to-End-Lösungen gefragt, die eine Skalierung bis 32 Gbit/s ermöglichen, dabei aber die Fähigkeiten der aktuellen Generation bieten.

Erfahren Sie, wie Sie das Testen und Debuggen Ihres Designs beschleunigen können.

Weitere Informationen

Verbraucherstandards über Typ C

Dank des Steckverbinders Typ C ist die Verwendung der Verbraucherstandards USB 3.1, DisplayPort 1.4 und Thunderbolt möglich. Dies bringt neue Design-Herausforderungen mit sich und erschwert es, die Entwicklungskosten gering zu halten und gleichzeitig optimale elektrische Werte bei den Produkten zu wahren.

Erfahren Sie, wie Sie diese neuen Herausforderungen am besten bewältigen.

Weitere Informationen

e-Guide zu Standards für Hochgeschwindigkeitsschnittstellen

Dieser kostenlose e-Guide hilft Ihnen, mehr über die Herausforderungen beim Testen von PCI-4.0-, SAS-, SuperSpeed-USB- und DDR4-Standards zu erfahren. Sie erhalten Zugang zu technischen Ressourcen, die Ihnen das Verständnis der Probleme beim Schaltungsentwurf erleichtern und die Auswahl der richtigen Lösung ermöglichen, die Ihren Bedürfnissen entspricht.

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