Referenzlösung für Doppelimpulstests mit großer Bandlücke

Beschleunigen Sie die Validierung von SiC- und GaN-Energiesystemen mit diesem umfassenden Paket von Messgeräten, Software, Tastköpfen und Services.

Verbessern Sie Ihre Systemleistung und verkürzen Sie die Markteinführungszeit mit:

JEDEC- und IEC-konforme Analysen direkt auf dem Messgerät
1 GHz Bandbreite für einfache Analyse hochfrequenter Signale
Arbiträr-Funktionsgenerator mit integrierter Software für Doppelimpulstests von Signalen
High-Side- und Low-Side-Tastköpfe mit Gleichtakt-Rauschunterdrückung und präzisen Messergebnissen

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Tab Container

Automatischer Doppelimpulstest

Die Doppelimpulstest-Anwendung mit großer Bandlücke (Opt. WBG-DPT) auf dem MSO der Serie 5 B ermöglicht präzise und einfache Doppelimpulsmessungen. Die Anwendung ermöglicht automatische Messungen von Umschaltzeiten, Zeitbereichen und Sperrverzögerungen gemäß JEDEC- und IEC-Normen. Detaillierte Konfigurationsmöglichkeiten ermöglichen Signalanalysen und -tests, die über die Standardspezifikationen hinausgehen.

Vereinfacht Doppelimpulstests erheblich mit dem AFG31250-Funktionsgenerator mit integrierter Software für Doppelimpulstests. Diese zeitsparende Software gewährleistet die richtigen Impulsparameter mit einfacher menügesteuerter Bedienung.

SOLN-WBG