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Charlie Bingler's blog

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Four Innovations that Accelerate High Channel-Count, High-Precision Semiconductor Testing
Vier Innovationen, die hochkanalige, hochpräzise Halbleiterprüfungen beschleunigen Monday, July 13, 2026
Halbleiter-Prüfingenieure stehen unter ständigem Druck, den Durchsatz und die Abdeckung zu erhöhen, ohne die Messgenauigkeit oder Gerätesicherheit zu beeinträchtigen. Eine Erhöhung der Kanalanzahl kann zur Steigerung des Durchsatzes – durch das parallele Testen mehrerer Prüflinge – und auch der Abdeckung beitragen. Es stellen sich jedoch mehrere technische Herausforderungen, wenn Ingenieure …
Tektronix booth at Automotive Test Expo
Tektronix Goes to the Automotive Testing Expo Friday, February 10, 2023
ATE or the Automotive Testing Expo is a leading international trade show for every aspect of automotive testing, development, and validation technologies, held annually in Detroit, Shanghai, and Stuttgart. ATE is important to the industry because it gives attendees the ability to see the latest and greatest products and solutions under one roof for the various technologies and services available …