掌握 AI Data Center 光通訊元件的關鍵測試方案
隨著 AI Data Center 持續追求更高頻寬、更低延遲與更高運算效能，光學技術已成為高速資料互連的重要核心。立即下載 Application Brief，深入了解 VCSEL、Laser Diode 與光通訊元件的測試方法，協助您建立更快速、更精準的測試流程。
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AI 光通訊技術正驅動新世代 AI 基礎架構
[隨著模型複雜度提升與分散式工作負載對高輸送量及低延遲的需求日益增加，光學技術已成為 AI 資料中心成長不可或缺的核心。
由於電性互連在頻寬與功耗方面已面臨瓶頸，進而推動高速收發器、矽光子（Silicon Photonics）以及共同封裝光學（CPO）等新興技術快速發展。
透過在 GPU 與網路交換器之間實現更快速、更高效的資料傳輸，光學技術不僅能支援 AI 系統的高強度流量模式，更是打造可擴展、高效能 AI 基礎設施的重要關鍵。
精準測試是光學元件開發的重要關鍵
雷射二極體（LD）與 VCSEL（垂直共振腔面射型雷射）已廣泛應用於下一代光通訊、光譜分析、3D 感測、影像以及更多高速光學應用。
隨著市場需求快速成長，工程團隊除了追求更高效能，也更加重視如何建立準確、可靠且具成本效益的測試策略，以提升研發效率與產品品質。
深入了解如何測試 AI 光通訊元件，包含：
- 使用 SMU 進行 VCSEL、LIV 與雷射二極體測試
- 利用 2601B-PULSE System SourceMeter® 產生乾淨的 10 µs Pulse
- 搭配 KickStart 軟體快速完成雷射二極體模組與 VCSEL 測試
- 克服 VCSEL 應用中的電源量測挑戰
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