Tektronix 的訊號完整性建模軟體（SIM）可直接在示波器上執行去嵌入、嵌入及等化功能，讓您能即時移除或模擬纜線、治具與通道的影響。這使您能夠在真正的參考平面上分析訊號，並在不離開工作台的情況下探索各種「假設情境（what-if）」。透過消除量測架構所造成的失真，SIM 可協助您避免兩種代價高昂的風險：誤判失敗（false failures）以及錯誤的信心（false confidence）。
本應用說明：
- 簡要介紹高速系統中的測試挑戰。
- 說明可虛擬移動參考平面並直接在示波器上快速進行「假設情境（what-if）」分析的補償方法。
- 展示四個實務範例：利用去嵌入恢復訊號完整性、利用嵌入預測系統效能、利用 CTLE 等化優化接收器效能，以及透過中匯流排探測（mid-bus probing）消除 DDR 反射。
- 包含附錄，說明 S 參數（S-parameter）基礎概念，以及其在系統建模、去嵌入、嵌入與發射端（Tx）及接收端（Rx）等化中的應用，包括 CTLE、FFE 與 DFE。
了解 SIM 如何提供訊號路徑的全面可視性，幫助您更有信心地驗證合規性、優化效能並加快產品上市速度。
Tektronix 訊號分析、設計驗證與高速數位規範測試解決方案
7 系列 DPO 示波器是擷取與分析高頻訊號的核心工具。此示波器具備先進功能，包括業界領先的低雜訊性能、量測吞吐量，以及屢獲獎項的易用性與靈活性，使其成為研發與品質控制環境中不可或缺的設備。 訊號完整性建模軟體（Signal Integrity Modeling Software，選配 SIM 與 SIMA）讓工程師能直接在示波器上對探棒、纜線、治具進行去嵌入（de-embed）與嵌入（embed）處理，並對資料鏈路進行等化（equalization），有助於在實體測試前後進行設計最佳化，降低訊號完整性問題的影響。
主要功能：
- 實體模型（Physical Model）去嵌入環境，支援多區塊（multi-block）架構
- 模擬模型（Simulation Model）嵌入環境，支援多區塊（multi-block）架構
- 虛擬測試點功能，可在不易實際探測的位置觀察訊號
- 簡化工作流程，加快設定速度
- 提供區塊與測試點的時域及頻域波形分析
- 針對觸控操作最佳化的控制介面，可透過點擊與拖曳方式操作區塊及測試點
- 可儲存與匯出濾波器檔案結果，以配合 Tektronix 自動化相容性測試軟體及第三方軟體應用程式執行分析
- 可擴充支援大量模擬與測試點
- 提供 S 參數（S-parameter）轉換與比較功能，以加速驗證流程
- 接收端等化功能，包括 FFE、DFE 與 CTLE（需搭配 SIMA）
- 發射端等化功能，可加入去強調（de-emphasis）或預強調（pre-emphasis）（需搭配 SIMA）
- 自動建立 Tektronix 示波器與探棒模型
進階抖動分析軟體（Advanced Jitter Analysis Software，選配 DJA）可直接在示波器上執行詳細的抖動分析與眼圖產生，對於評估數位訊號的時序誤差及整體訊號完整性至關重要。 這些工具共同構成完整且強大的工具組，可支援從設計到驗證的無縫工作流程，並搭配 Tektronix 全面的教育訓練與技術支援服務，確保使用者能充分發揮其最大效益。
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