wide_bandgap_switching_power_converter_analysis
與我們聯絡
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間：上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)
致電
請致電
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間：上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)
下載
下載手冊、產品規格表、軟體等等：
意見回饋
最佳化非導通時間並消除假振鈴
GaN 半橋接電路特性
由於量測迴路中的寄生電容和電感，傳統的差動式探棒或浮動示波器幾乎不可能實現高頻率、浮動閘控 (VGS)、消耗 (VDS) 或電流 (ID) 訊號。
SiC MOSFET 和 GaN FET 切換電源轉換器分析套件，包含 IsoVuTM 光學隔離差動式探棒，使用多種專利技術來消除差動訊號的共模效應。即使是超高開關頻率，IsoVu 的雷射資料傳輸系統也能消除任何電氣連接，為您提供無與倫比的共模互斥。
- 透過同時進行偏高和偏低 VGS 及 VDS 量測來最佳化非導通時間
- 在實際負載條件下，精確分析閘控充電特性並最佳化閘極驅動效能
- 差動電壓範圍從 1 mV 到 2500 V
- 超快速切換的頻寬高達1 GHz
- 共模電壓最高可達 60 kV
- 低輸入電容頂部 (<1pF)
- 在具有高共模互斥的浮動電流分流器上，準確測試消耗(ID) 電流
在實際操作條件下自動進行耗損量測
切換損失會顯示 FET 的功率損耗。波形會加上色碼標記作為註解，以顯示 Ton、Toff 和 Total 週期對應於結果標籤值的量測區域。結果標籤內的控制項可讓您輕鬆地穿梭各個週期。
可以手動完成電源品質、效率和損耗量測，以最佳化和驗證 SiC 或 GaN 電源設計。但是，許多工程師在示波器上使用自動化工具來實現更快、更可重複的結果。此解決方案包括 5-PWR 進階電源量測和分析軟體套件，可自動進行切換裝置、電路內部電感器和轉換器、直流輸出和交流線路量測的電源品質、效率和損耗量測。
透過在真實條件下量測和最佳化每個子系統，您可以從電源設計中獲得最高的可能效率。
重要量測包括：
- 切換裝置量測，例如 GaN、SiC 或矽 FETS 上的切換損耗分析和安全工作區
- 電路內部電感器和轉換器量測，包括電感 BH 曲線和磁性損失分析
- 直流輸出量測，例如效率、漣波和開啟/關閉
- 交流線路量測：交流電源分析，包括諧波
PowerSol1 系統中有什麼？
- 5 系統 MSO 示波器 - 高解析度 (12 位元)，可在實際條件下測試 Vgs、RDS_ON 和傳導損失。
- 5-PWR 軟體 – 自動、準確且可重複的電源量測，用於在實際工作條件下計算切換損耗、傳導損耗、RDS_ON、磁性損失、SOA 等等。
- GaN 半橋接展示板指南 – 引導開始使用的操作指南。
- TIVH08 IsoVu 隔離差動式電壓探棒 – 2.5 KV 差動式電壓額定，用於在高壓 SiC 和 GaN 功率轉換器上測試 VDS 訊號。此外具備 800 MHz 頻寬，可實現 SiC 和 GaN 功率裝置常見的極快 dv/dt。
- TIVH05 IsoVu 隔離差動式電壓探棒 (選配) – 2.5 KV 差動式電壓額定，用於在高壓 SiC 和 GaN 功率轉換器上測試 VDS 訊號。此外具備 500 MHz 頻寬，可實現 SiC 和 GaN 功率裝置常見的極快 dv/dt。
- TIVM1 IsoVu 隔離差動式探棒 (選配) – 1 GHz 頻寬，適用於低電壓 (<50 V) 訊號 (如 VGS 和分流器電壓) 的極快 dv/dt。
- TPP1000 高頻寬被動式探棒 (標準配件) - 示波器隨附的標準設備；每個通道一個。1 GHz 頻寬用於測試接地參考的高 dv/dt 訊號，如 VGS_LOW 和分流電壓。
- 用於高頻寬被動式探棒的 MMCX 屏蔽探棒頭 (選配) – 透過消除接地迴路，讓高頻率接地參考量測更加準確。請觀看此處影片，了解如何使用 MMCX 接頭建立不在規劃內的測試點 (206-0663-xx)。