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ソース・メジャー・ユニット（SMU）とは
ソース・メジャー・ユニット（SMU）は、電圧または電流を正確に印加すると同時に、電圧、電流を測定できる機器です。デジタル・マルチメータ（DMM）、電源、真の電流ソース、電子負荷、パルス・ジェネレータといった便利な機能をコンパクトな筐体で実現した計測器です。SMUは、優れた汎用性と確度を備えており、上記の5つの測定器を個別に組み合わせて使用するよりも有用であると見なされています。
ベンチ機器およびテクトロニクス・オシロスコープ用ケースレーKickStart機器制御ソフトウェア
複雑なプログラミングなしで、わずか数分で測定を開始できます。I-V特性評価などを行うことができます。
ケースレーのI-Vトレーサ・ソフトウェア
2端子デバイス用カーブ・トレーサの使い慣れたユーザ体験により、電流と電圧の両方で特性のトレースが可能。
計測技術ラーニング・センター
ソース・メジャー・ユニット（SMU）の基本を学べます。測定の基本的なコンセプトから、2端子および3端子デバイスでSMUの使用してIV曲線を得る方法、SMUによるテスト・セットアップの簡素化と生産性の向上など、業界に不可欠な主要なアプリケーションの紹介まで、さまざまなトピックを取り上げます。入門書
テスト／測定アプリケーションに最適なソース・メジャー・ユニットの選択
この包括的なホワイト・ペーパーでは、テスト／測定アプリケーションにおけるSMU機器の真の利点と、信号の印加と測定を同時に行う能力について詳しく説明しています。
ソリューション・ノート
DC-DCコンバータの特性評価の簡素化
DC-DCコンバータは広く普及している電子部品であり、DC電力をある電圧レベルから別の電圧レベルに変換し、出力電圧を調整する働きをします。このソリューションでは、ケースレーの2チャンネルの2600B型システム・ソース・メータと当社のオシロスコープを使用して、DC-DCコンバータのテストを簡素化する方法について説明しています。
アプリケーション・ノート
高電圧半導体デバイスのブレークダウン／リーク電流の測定
ケースレーは、ハイパワー半導体デバイスのテストにおいて、長年にわたり強い存在感を示してきました。最近では、SiCやGaNデバイス試験といった困難な測定に対応するために、2470型1.1kVグラフィカル・ソースメータ（SMU）を発表しました。このアプリケーション・ノートでは、この新しいソース・メジャー・ユニットとケースレーの高電圧半導体用KickStartソフトウェア・アプリケーションについて詳説しています。
アプリケーション・ノート
2601B-PULSE型システム・ソースメータでクリーンな10µsパルスを生成
LIDARなどの光電子デバイス用のVCSELの特性評価を行うときに、高品質の電流パルスを出力しようとすると、数多くの難題に直面します。このアプリケーション・ノートでは、10μsという短い電流パルスを容易に印加すると同時に、デバイスの自己発熱を最小限に抑える方法を紹介しています。
ソース・メジャー・ユニット（SMU）に関するよくある質問（FAQ)
ソース・メジャー・ユニットの選び方は？
テクトロニクスでは、用途にあわせて、豊富なラインナップをご用意しています。そのため、お客様に最適な製品をお選びいただけます。選び方に関しては、こちらの選択ガイド をご覧ください。
ソース・メジャー・ユニットの使い方は？
ケースレーのソース・メジャー・ユニットは、タッチスクリーンとアイコン・ベースのメニューでスマートフォンのように簡単に操作が可能です。詳細は製品カタログをご覧ください。
ソース・メジャー・ユニットの用途は？
ソース・メジャー・ユニットは半導体、部品、各種センサのパラメトリック・テストをはじめ、バッテリや、光電子デバイス、電気化学の各種テスト、高／低抵抗測定など幅広いアプリケーションに対応します。例えば、下記のような測定やテストが可能です。
- ダイオード、LEDなどのI-V特性評価
- トランジスタ、FETなどのI-V特性評価
- バッテリの充放電テスト
- 電気化学測定
- DC-DCコンバータのDC特性評価