有數種以所使用測試儀器類型為基礎量測 PLL 迴路回應的方法。如預期,多種方法會犧牲掉測試準確度、測試速度 (傳輸量)、易使用性、易設定性,和初始成本 。此外,某些方法的限制使它們無法適用在所有類型的 PLL。所有的方法可以針對特定規格進行相容性測試,部分還提供額外有用的資訊供時脈設計工程師進行最佳化的設計。
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