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製品サポートとダウンロード
テクトロニクスの製品サポートへようこそ
当社は、技術的な問題について、時間をかけて丁寧にご説明させていただきます。しかし、お忙しいお客様もおられることでしょう。そのため、現行製品のほか、多くの製造中止の製品についても、マニュアル、データ・シート、ソフトウェア等を用意し、簡単にダウンロードしていだだけるようにしております。ご使用の製品をお知らせ下さい。関連するあらゆるリソースをご提供いたします。
選択された製品型名は現在購入可能です。以下のサポート情報を提供しています。
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データシート 文書番号： リリースの日付 4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet
1KW-60780-2
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技術情報 ドキュメントの種類 リリースの日付 CVとIVの切り替え測定
4200A型 半導体パラメータ・アナライザと 4200A-CVIV型 マルチスイッチを使った簡単な切り替え方法をご紹介します。アプリケーション・ノート 400Vまでの高電圧に対応 : 3端子デバイスの高電圧CV測定
このアプリケーションノートでは、4200A-CVIVマルチスイッチ・バイアスティー機能を使用してCISS、COSS、およびCRSS測定を行う方法について説明します。また、より高いドレイン電圧を測定するために、どのように計測器のDC出力電圧を2倍に高めた方法も示し、これは、GaNなどのハイパワー半導体デバイスをテストするのに大変役立ちます。アプリケーション・ノート 有機FETのDC IV及びACインピーダンス測定
このアプリケーションノートでは、4200A-SCSパラメータアナライザを使用して、OFETでDC I-VおよびACインピーダンス測定を最適化する方法の概要を説明します。 最良の結果を得るためのタイミングパラメータ、ノイズ低減、シールド、適切なケーブル配線、およびその他の重要な測定上の注意事項について説明します。アプリケーション・ノート 低電流パルスI-V測定
このアプリケーションノートは、超速I-Vを定義し、時間-測定ウィンドウにおける電流測定の基本的な限界を説明し、低電流超速I-V測定を行うための技法を解説しますアプリケーション・ノート 4201-SMU型および4211-SMU型を使用した高い測定接続容量における安定した微小電流測定の実現
このアプリケーション・ノートでは、SMUの最大容量仕様について説明し、4201-SMU型および4211-SMU型で安定した微小電流測定を行うことができるいくつかのアプリケーションについて解説します。このアプリケーション事例には、フラット・パネル・ディスプレイ上でのOLEDピクセル・デバイスのテスト、長いケーブルを使用したMOSFETの伝達特性、スイッチ・マトリクスを介したFETテスト、チャック上でのナノFET I-V測定、およびコンデンサのリーク測定が含まれています …アプリケーション・ノート 4200A-SCSパラメータアナライザでのMOSFETのゲート電荷測定
このアプリケーションノートでは、4200A-SCSパラメータアナライザによるJEDECゲート電荷テスト方法に基づいたMOSFETのゲート電荷を測定する方法について説明します。アプリケーション・ノート 4215-CVU容量電圧測定ユニットによるフェムトファラド(1e-15F)レベルの容量測定
このアプリケーション・ノートでは、4215-CVU 容量電圧測定ユニットを使用したフェムトファラドの容量測定を行う方法について説明します。また、 適切な接続と、最良の結果を得るためのClariusソフトウェアでの適切なテスト設定方法も含まれています。アプリケーション・ノート Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.アプリケーション・ノート Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.アプリケーション・ノート Making Optimal Capacitance and AC Impedance Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
Introduction Capacitance-voltage (C-V) and AC impedance measurements are commonly performed on many types of devices for a wide variety of applications. For example, C-V measurements are used to determine these device …アプリケーション・ノート Wafer Level Reliability Testing with the Keithley Model 4200A-SCS Parameter Analyzer
Introduction The continuing push for more devices on each chip and faster clock speeds is driving the demand for shrinking geometries, new materials, and novel technologies. All of these factors have a tremendous impact on the lifetime and …アプリケーション・ノート 1 ns Pulsing Solutions for Non-Volatile Memory Testing
Until recently, floating gate (FG) NAND flash memory technology has been successful in meeting the demand for non-volatile memory (NVM) devices for tablets and smartphones. However, there is increasing concern in the …テクニカル・ブリーフ
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ソフトウェア ドキュメントの種類 部品番号： リリースの日付 4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.12
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer If installing on a …Application 4200A-CLARIUS-V1.12 4200A-SCS Clarius+ Software V1.11
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a …Application 4200A-CLARIUS-V1.11 4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.9
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a …Application 4200A-CLARIUS-V1.9 4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3 (Legacy – Unsupported)
This legacy version of Clarius is made available for Windows 7 computers. For the latest version of Clarius+ please visit the 4200A-SCS Product Support page ( Product Support and Downloads | Tektronix ) and select Software. The 4200A-SCS Clarius+ …Application 4200A-CLARIUS-V1.3
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FAQ FAQ ID How can I measure hall mobility of 2D materials?
Hall mobility, or electron mobility, of a 2D material is best measured by utilizing the Hall effect. There are several different Keithley solutions for making Hall effect measurements. A Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer with 4 Source Measure …71221