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コンピュータおよび周辺機器
次世代規格への迅速な移行

データは日常生活に不可欠な要素です。 これはエンジニアだけでなく、すべての人に言えることです。 処理能力、帯域幅、ストレージ容量に対する要求が幾何学的に増大し、それに伴い電力効率、セキュリティ、密度に関する新たな課題が生まれています。
次世代規格では、厳しいマージンや複雑なバス・プロトコルの課題に留まらず、より高速なビット・レートや革新的な低電圧シグナリングが求められます。 デジタル電源管理が業界全体に浸透してきています。
当社のオシロスコープ、ロジック・アナライザ、および信号ソースは、一般回路のデバッグ/検証の面で広く評価されています。 当社は、規格開発と並行する形で、自社製のオシロスコープ、BERT、および任意波形ジェネレータをベースとして、高速シリアル・バスの自動コンプライアンス/検証テストを可能にするソリューションを構築するよう取り組んでいます。 また、当社のパワー測定ソリューションは、極めて動的な電源管理システムの分析にも対応しています。
コンテンツ
高速インタフェース規格のテストに関するe-Guide
この無料のe-Guideをお読みになれば、PCIe 4.0、SAS、SuperSpeed USB、DDR4などの規格のテストで直面する設計上のさまざまな問題についてより深く理解できます。
組込み設計におけるシリアル・バスのデバッグ
MSO/DPOシリーズ・オシロスコープのプロトコル・トリガ、デコード、および検索機能を使用して、I2C、SPI、USB、RS-232/422/485/UART、CAN、LIN、FlexRay、Ethernet、I2S/LJ/RJ/TDMなどの多くバスのシリアル・バス統合およびデバッグに伴う課題を解決する方法について説明しています。
アプリケーション・ノート:DDRメモリの電気検証
DDR SDRAMクロック周波数と信号エッジ・レートがますます高速化するにつれ、DDRメモリ設計を成功させる鍵としてシグナル・インテグリティ、バス・ステート検証手法の重要性も高まってきています。このアプリケーション・ノートでは、コマンド・バスのトリガ/デコード手法、リード/ライト信号の分離手法、メモリのシグナル・インテグリティの各種測定に焦点を当てています。
- オシロスコープ:世界の10人のエンジニアのうち8人が当社のスコープを信頼し、今後の設計のデバッグおよびテストを迅速に進めるのに役立てています。
- ロジック・アナライザ:プロトコル層や論理層のシステム問題をすばやく正確に指摘します。
- 信号ジェネレータ:今日の複雑な信号に対処できる業界で最も汎用性の高い信号発生器です。