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| 特長 | 利点 |
| 4種類の構成オプションを利用可能 | DMMの有無、前面パネル・ディスプレイやキーパッドの有無など、各用途で最低限必要となる機能を購入できます。 |
| 組み込みのテスト・スクリプト・プロセッサ（TSP®） | 機器自体にテスト・スクリプトを組み込んでPCコントローラと機器間の通信の遅延を防止することによって、テスト・スループットを大幅に改善できます。 |
| TSP-Link®マスタ／スレーブ接続 | メインフレーム間のシステム拡張が容易です。また、2600Bシリーズ・ソースメータなど、他のTSP-Link対応機器に接続できます。 |
| オプションの7.5桁DMMをメインフレームのアナログ・バックプレーンに接続可能 | 各カード・チャンネルからマルチメータまでの高品質信号パスが保証されます。 |
| Webインタフェースを内蔵 | 測定結果を迅速かつ簡単に制御および解析できます。 |
| 3.5桁の分解能でメモリに対して1秒当たり14,000個以上の読み値を実現するDMM（オプション） | 高スループットのコンポーネント・テストに対応しています。 |
| 前面パネルのUSB 2.0デバイス・ポート | 読み値、システム構成、およびテスト・スクリプトを簡単に転送して、メモリ・スティックに保存できます。 |
| LXI/Ethernet、GPIB、USBインタフェースを内蔵 | テスト・システム内の他の機器と簡単に接続できます。 |
| 14個のプログラマブル・デジタルI/Oライン | コンポーネント・ハンドラや他の機器などの外部デバイスを簡単に制御できます。 |
| 型名 | 最大スイッチング・チャンネル | その他の機能 | 拡張性 | メインフレーム・サイズ | カード・スロット数 | 価格 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 3706A-SNFP | up to 576 | Switch Only, DMM is excluded and without front panel display and keypad | GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) | Full rack, 2U | 6 | US $3,140 構成と見積り |
| 3706A-S | up to 576 | Switch Only, DMM is excluded | GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) | Full rack, 2U | 6 | US $3,510 構成と見積り |
| 3706A | up to 576 | Integrated DMM | GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) | Full rack, 2U | 6 | US $4,550 構成と見積り |
| 型名 | 最大スイッチング・チャンネル | その他の機能 | 拡張性 | メインフレーム・サイズ | カード・スロット数 | 価格 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 3706A-SNFP | up to 576 | Switch Only, DMM is excluded and without front panel display and keypad | GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) | Full rack, 2U | 6 | US $3,140 構成と見積り |
| 3706A-S | up to 576 | Switch Only, DMM is excluded | GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) | Full rack, 2U | 6 | US $3,510 構成と見積り |
| 3706A | up to 576 | Integrated DMM | GPIB /USB (TMC) / LAN (LXI) | Full rack, 2U | 6 | US $4,550 構成と見積り |
アクセサリ
3706-BKPL
データシート
概要
ANALOG BACKPLANE EXTENDER BOARD
アクセサリ
3720
データシート
概要
DUAL 1X30 MULTIPLEX CARD (AUTO CJC WITH 3720-ST)
アクセサリ
3721
データシート
概要
DUAL 1X20 MULTIPLEX CARD (AUTO CJC WITH 3721-ST)
アクセサリ
3722
データシート
概要
デュアル1×48高密度マルチプレクサ・カード
アクセサリ
3723
データシート
概要
デュアル1×30高速リード・リレー・マルチプレクサ・カード
アクセサリ
3724
データシート
概要
デュアル1×30FETカード（自動CJCを利用するには3724-STの注文も必要）
アクセサリ
3730
データシート
概要
6×16高密度マトリックス・カード
アクセサリ
3731
データシート
概要
6×16高速リード・リレー・マトリックス・カード
アクセサリ
3732
データシート
概要
クアッド4×28リード・リレー・マトリックス・カード
アクセサリ
3740
データシート
概要
28個の独立フォームCおよび4個の高電流フォームAカード
アクセサリ
3760
データシート
概要
10チャンネル大電流マルチプレクサ・カード
アクセサリ
3761
データシート
概要
10チャンネル低電流マルチプレクサ・カード
アクセサリ
3762
データシート
概要
10チャンネル高電圧マルチプレクサ・カード
アクセサリ
3765
データシート
概要
ホール効果カード
アクセサリ
4288-10
データシート
概要
3706メインフレーム用ラック・マウント・リア・サポート・キット
アクセサリ
8620
データシート
概要
ショート・プラグ
| データシート | アクセサリ | 概要 |
|---|---|---|
| 表示（View） データシート | 3706-BKPL | ANALOG BACKPLANE EXTENDER BOARD |
| 表示（View） データシート | 3720 | DUAL 1X30 MULTIPLEX CARD (AUTO CJC WITH 3720-ST) |
| 表示（View） データシート | 3721 | DUAL 1X20 MULTIPLEX CARD (AUTO CJC WITH 3721-ST) |
| 表示（View） データシート | 3722 | デュアル1×48高密度マルチプレクサ・カード |
| 表示（View） データシート | 3723 | デュアル1×30高速リード・リレー・マルチプレクサ・カード |
| 表示（View） データシート | 3724 | デュアル1×30FETカード（自動CJCを利用するには3724-STの注文も必要） |
| 表示（View） データシート | 3730 | 6×16高密度マトリックス・カード |
| 表示（View） データシート | 3731 | 6×16高速リード・リレー・マトリックス・カード |
| 表示（View） データシート | 3732 | クアッド4×28リード・リレー・マトリックス・カード |
| 表示（View） データシート | 3740 | 28個の独立フォームCおよび4個の高電流フォームAカード |
| 表示（View） データシート | 3760 | 10チャンネル大電流マルチプレクサ・カード |
| 表示（View） データシート | 3761 | 10チャンネル低電流マルチプレクサ・カード |
| 表示（View） データシート | 3762 | 10チャンネル高電圧マルチプレクサ・カード |
| 表示（View） データシート | 3765 | ホール効果カード |
| 表示（View） データシート | 4288-10 | 3706メインフレーム用ラック・マウント・リア・サポート・キット |
| 表示（View） データシート | 8620 | ショート・プラグ |
PCから機器を操作
KickStartソフトウェアを使用すると、テストや測定が高速化され、イノベーションが促進されます。PC用の機器制御ソフトウェアであるKickStartを使用すれば、テストのセットアップ、テストの実行、データの可視化を素早く簡単に行うことができます。KickStartがデータを直ちにプロットし、読み値テーブルのデータの統計概要がすぐに表示されます。解析結果をすばやく集めて、必要な意思決定をすぐに下すことができます。
- 複数のタイプ機器で個別にまたは同時にテストを実行可能
- 長期的な記録に役立つデータの自動エクスポート
- 保存されたテスト設定を利用してすばやくテストを再現
- 内蔵のプロット／比較／統計ツールを使用して、測定値の異常や傾向をすばやく発見することができます。
- シミュレーションした機器を使用してテストを設定し、実際の機器が使用可能になった後、切り替えが可能
Automated Control from Lab to Fab
Keithley's Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.
- Perform simple 1-off tests or build complex project trees
- Code with Python inside ACS for unlimited flexibility and control
- Manual or automated wafer prober control
- Data management and statistical analysis capabilities
