多様な測定タイプに対応したケーブルシステム

半導体デバイスの電気的特性やその作成プロセスを理解するために多様

な測定手法が要求される。その中でもI-VやC-Vやパルス測定は最も広く用い

られる測定手法であるが、最新の半導体デバイスアナライザーにはそれらの

測定機能が組み込まれており、デバイスの測定評価における時間や労力の

削減に役立っている。

多様な測定タイプに対応した ケーブルシステム