NI LabVIEWとFPGAを用いた自動計測ソリューション

電子回路の高速化や複雑化に伴い新しい計測ニーズが生まれています。例えば、不定期に一瞬だけ発生する事象の計測や、計測速度向上のための高速演算処理へ のニーズです。 本セッションではNI LabVIEWのデモを交えながら、テクトロニクス社と共同開発したPXIモジュール式計測器（12.5GS/sデジタイザ）を紹介し、一般計測器では困 難だった計測データの長時間保存やFPGAを用いた計測の高速化手法について紹介します。