手動特性化晶片和封裝零件位準裝置的電子效能，需要學習新的技術、設備，以及探棒基礎設施，以利進行低位準量測 (例如，在高崩潰電壓的情況下量測漏電流的 pA)。來源電流可承受高達 100A、電壓高達 3000V，並使用 Keithley 功率裝置測試解決方案，以最佳化導通狀態、靜止狀態和電容量測之間往往複雜且耗時的設定變化。

典型的導通狀態量測設定。

由於高頻率 (快速開啟和關閉) 的關係，我們很難或根本無法進行浮接差動量測 (例如高端 Vgs)，而且因為示波器探棒在高頻寬時沒有足夠的共模互斥比，所以會出現高共模電壓 (例如 Vds)。共模互斥比不佳會讓共模誤差主導量測的進行，而非由實際的差動訊號來主導。只有 Tektronix 的解決方案能提供隔離的探棒 (ISOVu)，而不會在 GaN 和 SiC 裝置的作業需求下讓頻率衰減，因此可讓您進行精確的差動量測。這可讓您精確計算和驗證傳導損失、非導通時間損失和切換損失。此外，進行浮接差動量測如果您沒有整合使用閘門驅動器，則影響您精確量測和控制裝置開啟和關閉的非導通時間的要求。您現在也可以避免因為硬切換所產生的暫態電壓 (dv/dt) 和電流，而過度估算電源轉換器所產生的高頻放射。

需要注意的另一點，則是探棒電容在較高切換頻率下的影響。探棒電容過高會使得量測結果捨入上升值，導致重要的高頻率切換特性遺失。另外，將探棒增加到非常敏感的浮動閘極訊號中，可能會因暫態訊號造成電容充電而導致裝置損壞。ISOVu 探棒的低電容還可以讓閘極的探棒電容問題，以及因暫態信號而損壞裝置的風險降到最低。

透過使用 IsoVu 探棒，可以精確地擷取高端閘極電壓波形，以在 dV/dt 不會降低的情況下，評估和最佳化切換效能與可靠度。