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스위칭 매개 변수 측정을 위한 표준 방법

스위칭 손실을 최소화하는 것은 SiC 및 GaN 장치로 작업하는 전력 장치 엔지니어에게 지속적으로 중요한 과제입니다. 스위칭 매개 변수를 측정하고 Si, SiC, GaN MOSFET 및 IGBT의 동적 동작을 평가하기 위한 표준 테스트 방법은 이중 펄스 테스트(DPT)입니다. 이중 펄스 테스트를 통해 장치 켜기 및 끄기 동안의 에너지 손실과 역복구 매개 변수를 측정할 수 있습니다.

이중 펄스 테스트 및 이점

이중 펄스 테스트의 기초

이중 펄스 테스트는 두 개의 장치를 사용하여 수행됩니다. 한 장치는 DUT(테스트 대상 장치)이고 다른 장치는 일반적으로 DUT와 동일한 유형의 장치입니다. "높은" 쪽 장치의 유도성 부하에 유의하십시오. 인덕터는 컨버터 설계에 있을 수 있는 회로 조건을 복제하는 데 사용됩니다. 사용되는 장비는 전압을 공급하는 파워 서플라이(또는 SMU), MOSFET의 게이트를 트리거하여 전류 전도를 시작하도록 펄스를 출력하는 임의 함수 발생기(AFG) 및 결과 파형을 측정하는 오실로스코프입니다.

이중 펄스 테스트를 위한 게이트 드라이브 신호를 생성하는 방법

이중 펄스 테스트를 수행하기 위해 게이트 드라이브 신호를 생성하는 가장 쉬운 방법은 임의 파형 발생기(AFG)를 사용하는 것입니다. AFG는 이중 펄스 테스트를 수행하기 위해 게이트 드라이브 신호를 생성하는 데 사용될 수 있습니다. Tektronix AFG31000에는 다양한 폭의 펄스를 생성하기 위한 이중 펄스 테스트 애플리케이션이 내장되어 있습니다.

generate gate drive signals double pulse test

이중 펄스 테스트를 수행하기 위한 장비 설정.


자세히 보기:

AFG31000을 사용한 이중 펄스 테스트

켜기 및 끄기 타이밍과 에너지 손실을 측정하는 방법

오실로스코프는 이중 펄스 파형을 캡처하는 훌륭한 도구이므로 장치의 켜기 및 끄기 시간 매개 변수를 얻을 수 있습니다. Tektronix 4/5/6 시리즈 B MSO와 광대역 밴드갭 이중 펄스 테스트 애플리케이션 소프트웨어(옵션 WBG-DPT)를 사용하면 매개 변수를 캡처하는 데 필요한 모든 것을 손쉽게 사용할 수 있습니다. WBG-DPT 옵션은 JEDEC 및 IEC 표준에 따라 자동 스위칭, 타이밍 및 다이오드 역복구 측정을 제공합니다.

역복구 측정

다이오드의 역복구 시간은 다이오드의 스위칭 속도를 측정하는 척도이므로 컨버터 설계에서 스위칭 손실에 영향을 미칩니다. 역복구 전류는 2차 펄스가 켜지는 동안 발생합니다. 다이어그램에서 볼 수 있듯이 다이오드는 위상 2에서 순방향 상태로 전도됩니다. 낮은 쪽 MOSFET이 다시 켜지면 다이오드가 즉시 역방향 차단 상태로 전환되어야 함에도 짧은 시간 동안 역방향 상태로 전도하게 되는데, 이를 역복구 전류라고 합니다. 이 역복구 전류는 에너지 손실로 변환되어 전력 컨버터의 효율에 직접적인 영향을 미칩니다.

measuring device reverse recovery

이중 펄스 테스트 회로

제품

5 series B MSO - MSO58B

5 시리즈 B MSO 혼합 신호 오실로스코프

5 Series MSO is a mixed signal oscilloscope with a high definition display with a touchscreen, up to 8 inputs, 12-bit analog-to-digital converters and bandwidth up to 2 GHz.

6 Series B MSO Mixed Signal oscilloscope

6 시리즈 B MSO 혼합 신호 오실로스코프

1GHz부터 최대 10GHz까지 업그레이드 가능한 대역폭으로 고속 설계의 문제를 해결하고 유효성을 검증할 수 있습니다.

5 series B double pulse test

광대역 밴드갭 더블 펄스 레퍼런스 솔루션

이 장비, 소프트웨어, 프로브 및 서비스의 전체 제품군을 통해 SiC 및 GaN 전력 장치와 시스템에 대한 검증을 가속화하십시오.   다음을 통해 시스템 성능을 높이고 시장 출시 시간을 단축하십시오. JEDEC 및 IEC 표준을 준수하는 온스코프 분석 고속 스위칭 신호의 손쉬운 분석을 위한 1GHz의 대역폭 더 …
Tektronix AFG31000 function generator

AFG31000

InstaView™ 기술이 내장된 AFG31000 시리즈는 내장 파형 발생 애플리케이션, 특허를 바탕으로 실시간 파형 모니터링 및 최신 사용자 인터페이스가 포함된 고성능 함수 발생기입니다.

IsoVu Isolated Oscilloscope Probes

IsoVu 절연 프로브

프로빙 시스템은 커먼 모드 신호나 노이즈 발생 시에도 고해상도 측정을 수행합니다.