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Méthode standard de mesure des paramètres de commutation
La réduction des pertes de commutation continue d’être une difficulté majeure pour les créateurs de dispositifs d'alimentation qui travaillent sur des dispositifs en SiC et GaN. Le test à double impulsion est la méthode de test standard pour mesurer les paramètres de commutation et évaluer les comportements dynamiques des circuits d'alimentation MOSFET et IGBT en Si, SiC et GaN. Le test à double impulsion peut être utilisé pour mesurer la perte d'énergie lors de l'activation et de la désactivation d'un appareil, ainsi que les paramètres de récupération inversée.
Le test à double impulsion et ses avantages
Circuit de test à double impulsion.
En savoir plus :
Les bases du test à double impulsion
Un test à double impulsion est réalisé avec deux appareils. L'un des appareils est l'appareil testé, et l'autre est généralement du même type que l'appareil testé. Notez la charge inductive sur l'appareil côté « alimentation ». L'inducteur est utilisé pour reproduire les conditions de circuit qu'on peut trouver dans un convertisseur. Les instruments utilisés sont une alimentation ou SMU pour fournir la tension, un générateur de fonctions arbitraires (AFG) pour émettre des impulsions qui déclenchent la grille du MOSFET afin de l'activer et de démarrer la conduction du courant, et un oscilloscope pour mesurer les signaux produits.
Comment générer des signaux de grille pour un test à double impulsion
Le moyen le plus simple de générer les signaux de grille pour effectuer un test à double impulsion consiste à utiliser un générateur de formes d’onde arbitraires (AFG). Un AFG peut être utilisé pour générer le signal de grille pour réaliser un test à double impulsion. Le Tektronix AFG31000 dispose d'une application de test à double impulsion permettant de créer des impulsions avec différentes largeurs d'impulsion.
Configuration de l'équipement pour la réalisation d'un test à double impulsion.
En savoir plus :
Test de deux impulsions avec l'AFG31000
Circuit de test à double impulsion.
En savoir plus :
Test à double impulsion – Mesures de perte d’énergie
Fiche technique d’application du MSO série 4/5/5B/6B Option 4-WBG-DPT/5-WBG-DPT/6-WBG-DPT
Comment mesurer la temporisation des activations et désactivations et les pertes d'énergie
Un oscilloscope est un excellent outil pour capturer les signaux à double impulsion pour obtenir les paramètres de temporisation d'activation et de désactivation de votre appareil. Avec le MSE B série 4/5/6 Tektronix et l'application logicielle du test à double impulsion à large bande (en option WBG-DPT), vous disposez de tout le nécessaire pour capturer les paramètres. L'option WBG-DPT offre des mesures automatisées de commutation, de temporisation et de récupération inversée de la diode conformément aux normes JEDEC et CEI.
Mesurer la récupération inversée
Le temps de récupération inversée de la diode est une mesure de la vitesse de commutation à l'intérieur de la diode, et affecte donc les pertes de commutation à l'intérieur du convertisseur. Le courant de récupération inversée se produit lors de l'activation de la seconde impulsion. Comme le montre le diagramme, la diode conduit vers l'avant pendant la phase 2. Lorsque le MOSFET côté masse s'active à nouveau, la diode doit immédiatement passer en blocage inversé. Cependant, la diode conduit de façon inversée pendant une courte période. C'est ce qu'on appelle la récupération inversée. Ce courant de récupération inversée se traduit par des pertes d'énergie, ce qui a un impact direct sur l'efficacité du convertisseur de puissance.
Circuit de test à double impulsion.
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